Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200 #9260034 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200 ist eine speziell auf die Anforderungen der Halbleiterindustrie ausgerichtete Proberlösung. Es ist ein vollautomatisiertes Wafer-Sondierungssystem, das hochpräzise Messgenauigkeit, schnellere Sondierungszeiten und zuverlässige Testleistung bietet. TSK UF 200 ist in der Lage, Wafergrößen von 200mm bis 300mm zu handhaben und bietet ein hochauflösendes optisches Mikroskop für die Prozessentwicklung, Qualitätskontrolle und Fehleranalyse. Es kann gleichzeitig bis zu 32 Pins für hochgenaue Ergebnisse messen. ACCRETECH UF200 bietet auch mehrere Sondentechnologien an, um verschiedene Arten von Wafern zu unterstützen. Diese Sondentechnologien ermöglichen die Messung physikalischer, elektrischer und chemischer Eigenschaften des Wafers von Mikrometer bis zu mehreren Millimetern. Für physikalische Eigenschaften verfügt UF 200 über AFM (Atomic Force Microscopy) und SEM (Scanning Electron Microscopy) Fähigkeiten. AFM ermöglicht es Benutzern, die Topologie und Glätte einer Probe bis in die Atomwaage zu bestimmen, während SEM hochauflösende Bilder sowohl von Oberflächen- als auch Unterflächendetails von Wafern liefert. Elektrische Eigenschaften, wie elektrischer Widerstand, können mit FIB (Field Ion Microscope) gemessen werden, während ACCRETECH/TSK UF200 auch CV- und IV-Techniken für robustere elektrische Tests unterstützt. Mit diesen verschiedenen Techniken können TSK- UF200 unter anderem Rekombinationszentren, Shockley-Read-Hall-Parameter und Schnittstellenzustandsdichten messen. Chemische Eigenschaften, wie Oxidationszustände oder chemische Zustände, die auf der Oberfläche des Wafers vorhanden sind, können durch die Verwendung von ACCRETECH UF 200 Auger Electron Spectroscopy (AES) Fähigkeiten gemessen werden. AES ermöglicht es Anwendern, die chemische Zusammensetzung des zu untersuchenden Wafers zu verstehen und so ein weiteres Verständnis in Bezug auf Prozessentwicklung und Fehleranalyse zu ermöglichen. Insgesamt ist UF200 eine Hochleistungs-Wafer-Prober-Lösung, die mit mehreren Technologien zur Messung verschiedener physikalischer, elektrischer und chemischer Eigenschaften von Halbleiterwafern ausgestattet ist. Es ist ein leistungsstarkes, vollautomatisiertes Werkzeug, das in der Halbleiterindustrie sehr zuverlässige und genaue Messergebnisse liefert.