Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200 #9283854 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200 ist ein Prober zur elektrischen Prüfung von Halbleiterbauelementen mit hohem Durchsatz. Dieser Prober eignet sich zum Testen einer Vielzahl von Halbleiterbauelementen, einschließlich Transistor-, Flip-Chip- und Speichermodulen. Es verfügt über ein Sondensystem bestehend aus vier Sonden und vier unabhängigen Messkanälen, die eine gleichzeitige Prüfung mehrerer Geräte ermöglichen. Der Prober verwendet eine proprietäre vertikale Kraftmeßtechnik, die sicherstellt, daß die Sonden mit den zu prüfenden Geräten in Kontakt bleiben und kein falscher Kontakt hergestellt wird. Das fortschrittliche Sensorausrichtungs- und Kontaktkraftsteuerungssystem (AFCC) liefert präzise, hochgenaue Ergebnisse. Der Prober ist auch mit Accro-Touching, einem patentierten automatischen Gerätetastersystem, und Frequency Response Analysis ausgestattet, die die schnelle und genaue Messung der dynamischen Geräteeigenschaften ermöglicht. TSK UF 200 Prober wird in einer Hochgeschwindigkeitskonfiguration mit einer schnellen Reaktionszeit für genaue, wiederholbare Messungen und einem großen Ausrichtungsbereich für die Prüfung einer Vielzahl von Gerätetypen angeboten. Der Prober verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche mit einer integrierten intuitiven Programmierung und einer Bildkompensationsfunktion für eine hochgenaue Positionierung. Es ist auch mit einem erweiterten Fehleranalysator und einem leistungsfähigen Pass/Fail-Analysator für umfassende Tests ausgestattet. ACCRETECH UF200 kann verschiedene automatisierte Tests wie Bordauswertung, Prüfung von analogen und digitalen Geräten sowie Hochgeschwindigkeits-Speichergeräte unterbringen. Es verfügt über eine integrierte Softwareplattform und ist mit einer Reihe von Softwarepaketen und Testsuiten von Drittanbietern kompatibel. Darüber hinaus ist der Prober mit fortschrittlichen Sicherheitsmerkmalen ausgestattet und nach ISO 9001, ISO 14001 und CE zertifiziert. ACCRETECH UF 200 prober ist eine ideale Lösung für Serien-, Zuverlässigkeitstests und Fehleranalysen. Es ist in der Lage, Hochdurchsatztests einer Vielzahl von Halbleiterbauelementen mit höchster Genauigkeit durchzuführen und bietet kostengünstige Testlösungen und qualitativ hochwertige Ergebnisse.