Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200 #9283857 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200 ist ein Prober, der speziell entwickelt wurde, um eine breite Palette von Anforderungen an Wafertests zu erfüllen. Es ist in der Lage, Wafer jeder Größe zwischen 200mm und 300mm im Durchmesser zu testen, mit einer Dicke von 30mm bis 1mm. TSK UF 200 verfügt über eine voll kinema programmierbare XY-Tabelle, die eine präzise und wiederholbare Testumgebung bietet. Diese Tabelle hat sowohl manuelle Bewegung für die Musterpositionierung als auch automatische Bewegung für vorprogrammierte Mustertests. Probenstufen können auch für bis zu 5 Proben konfiguriert werden. ACCRETECH UF200 hat auch verschiedene optische Sonden und Nadeln für verschiedene Arten von Wafertests. ACCRETECH UF 200 verfügt auch über verschiedene Merkmalserkennungsalgorithmen, die es ermöglichen, die Eigenschaften von Wafern zu erkennen. Diese Algorithmen umfassen visuelle Merkmalserkennung, Bildbinarisierung, Kantenerkennung, Konturanalyse und Fehlererkennung. Bilder können auch zur weiteren Analyse exportiert werden. UF 200 verfügt außerdem über einen Messkreis, eine Hochgeschwindigkeitsvideokamera, eine Rückblickvideokamera und einen Rauhigkeitssensor. Der Messkreis kann mit hoher Genauigkeit Muster auf der Waferoberfläche messen. Die Hochgeschwindigkeitskamera ist in der Lage, Waferbewegungen mit sehr hohen Geschwindigkeiten zu erfassen und kann für die Oberflächenmikroskopie verwendet werden. Die Rückfahrkamera dient dazu, die genaue Form des Wafers zu messen und dessen Ausrichtung zu bestimmen. Der Live-Oberflächenrauhigkeitssensor liefert Echtzeit-Rückkopplung auf die Oberflächengüte des Wafers. UF200 verfügt auch über ein bildgebendes Modul, das mit einem Mikroskop verbunden werden kann, um eine größere Probenbildgebung zu ermöglichen. Das Imaging-Modul ist in der Lage, Bilder verschiedener Mustertypen wie SEM-Bilder, 3D-Bilder, Röntgenbilder und mehr zu erfassen. TSK UF200 ist auch in der Lage, Daten über USB oder Ethernet zu übertragen. Insgesamt ist ACCRETECH/TSK UF200 ein vielseitiger Prober, der eine breite Palette von Wafern testen und präzise und wiederholbare Testergebnisse für die Qualitätskontrolle liefern kann. Seine Eigenschaften machen es zu einem wertvollen Werkzeug für diejenigen in der Halbleiterindustrie.