Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200 #9363115 zu verkaufen

ACCRETECH / TSK UF 200
Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 200
ID: 9363115
Prober.
ACCRETECH/TSK UF 200 ist ein hochpräziser Prober zur genauen Prüfung und Sondierung verschiedener Halbleiterbauelemente. Es wurde entwickelt, um mit ICs, FPDs und anderen elektronischen Geräten wie SOTs, CSPs und SOICs zu arbeiten. Es verfügt über eine Regeleinrichtung mit einer Bewegungsregelgenauigkeit von 0,01 µm und einer Positionsgenauigkeit von 1 µm. Die Bühne des Probers hat ein X-Y-Uhrwerk von 150 mm x 150 mm und ein Z-Uhrwerk von 25 mm. Es kann Substrate von 25 bis 635 mm handhaben und unterstützt Substratgrößen bis 75 mm × 75 mm für eingebettete ICs und bis 300 mm × 300 mm für Flachbildschirme. Darüber hinaus ist der Prober in der Lage, Substrate mit einem Durchmesser von bis zu 500 mm für die Prüfung des Waferniveaus zu unterstützen. Der Prober enthält einen 16-Kanal-Prober-Systemcontroller mit PC und PC-Kartensteuerung. Dadurch kann das Gerät sowohl manuelle Tests als auch automatische Tests durchführen. Darüber hinaus ermöglicht die Sondenkopfkonstruktion einen schnellen und einfachen Austausch von Sonden, wodurch Ausfallzeiten reduziert werden. Es ist mit verschiedenen Schnittstellen ausgestattet, darunter Ethernet, USB, RS-232 und digitale I/O-Ports. Der Prober hat eine maximale Geschwindigkeit von 150mm/sec, mit einer Absetzzeit von bis zu 200ms, und elektromechanische Rückkopplung. Es ist auch zur automatisierten Wafer-Sondierung in der Lage und zeichnet sich durch hohe Präzision mit einstellbarer Federkraft aus. TSK UF 200 prober verfügt über eine erweiterte Windows-Bedienmaschine mit einer grafischen Benutzeroberfläche (GUI). Die GUI bietet eine einfache Möglichkeit, das Tool zu steuern und zu überwachen, und ermöglicht es dem Benutzer, auf eine Vielzahl von Funktionen wie automatisiertes Sondieren, programmierbare Testrezepte, Prozesssteuerung und Analyse zuzugreifen. Abschließend ist ACCRETECH UF200 prober ein hochpräziser Prober, der verschiedene Halbleiterbauelemente testen und sondieren kann. Es enthält einen 16-Kanal-Prober-Asset-Controller mit PC und PC-Kartensteuerung und ein erweitertes Windows-Betriebsmodell mit einer grafischen Benutzeroberfläche (GUI). Das Gerät umfasst ein Positionsregelungssystem mit einer Bewegungssteuergenauigkeit von 0,01 µm und einer Positionsgenauigkeit von 1 µm und hat eine maximale Geschwindigkeit von 150 mm/s, mit einer Absetzzeit von bis zu 200 ms und einer elektromechanischen Rückkopplung. Die Sonde eignet sich für ICs, FPDs und andere elektronische Geräte und unterstützt Substrate bis 75 mm × 75 mm für eingebettete ICs und bis 300 mm × 300 mm für Flachbildschirme.
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