Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 2000 #9234263 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 2000 ist ein Prober, der für Wafer-Sondierung und Chip-Tests entwickelt wurde. Dieses Prober-Modell bietet mehrere Funktionen, die ideal zum Testen und Sondieren von integrierten Hochleistungsschaltungen während der Produktentwicklung, Qualifizierung und Vermietung von Anwendungen sind. Der Prober verfügt über einen exklusiven Dual-Tilt-Arbeitskopf, der die gesamte Wafer-Abdeckung abdeckt und dabei sowohl vertikale als auch horizontale Bewegungen verwendet, um die Genauigkeit der Wafer-Level-Sondierung und Tests zu erhöhen. Der Prober bietet auch programmierbare x-, y-, z- und theta-Bewegungsachsen. Die fortschrittliche automatisierte Wafer-Zuordnung und individuelle Scan-Funktionen bieten effiziente Wafer-Test- und Sondierungsfunktionen. Darüber hinaus enthält die benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche (GUI) einfach zu befolgende Schritt-für-Schritt-Befehle für Wafer-Mapping und Test-Programmierung. TSK UF 2000 verfügt über ein Düsendickenerfassungssystem, das die Düsenhöhe vor jeder Lade-/Entladesequenz automatisch überwacht und zur Beseitigung von Fehlkontakten sowie kostspieligen Waferschäden durch Kontakt mit Fremdpartikeln beiträgt. Der Prober bietet auch einen Sieben-Achsen-Autoloader und einen Wafer-Unloader, mit dem der Benutzer bestimmte Wafer oder Wafergruppen zum Testen auswählen kann. Der Prober verfügt über eine Reihe von On-Board-Testgeräten sowie Anschlüsse an externe Testgeräte. Es verfügt über ein hochpräzises Ausrichtsystem, das in der Lage ist, eine Fehlausrichtung zwischen Düsenpackung und Waferoberfläche auszugleichen. Diese Funktionen ermöglichen es Benutzern, hochgenaue und zuverlässige Sondierungsergebnisse zu erhalten. Darüber hinaus ist der Prober auch mit einer einfach zu bedienenden Makrosprache ausgestattet, mit der Benutzer ihre eigenen Testprogramme anpassen können. ACCRETECH UF2000 prober ist zuverlässig und hochgenau, da es fortschrittliche Automatisierungsansätze nutzt und einen minimalen Bedarf an Eingriffen des Bedieners bei Wafer-Tests und Sondierungen gewährleistet. Die robuste Konstruktion des Probers ermöglicht es, die Anforderungen der High-Volume-Wafer-Prüfung und Sondierung in sehr engen Zeitrahmen zu erfüllen. Dieser Prober ist ideal für die Bedürfnisse von Industrie- und Forschungslabors, die extrem genaue und zuverlässige Sondierungsergebnisse während der Penetration erfordern.