Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 2000 #9249622 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9249622
Wafergröße: 5"-8"
Weinlese: 2011
Wafer probers, 5"-8"
Main control system: Pentium
Hard Disk Drive (HDD): 40 GB
Operating system: VxWorks
Temperature range: -40°C - 150°C
Head stage magnum
Magneto optical disk drive
(2) Cassette loaders for 25 wafers (5"-8")
COGNEX 8500 Vision system
Manual wafer inspection transfer unit
Dual robotic wafer transport arms
Pre-alignment stage unit
Capacitive non-contact displacement sensor
Color LCD control panel with touch panel switches
Chiller unit: ARTS-HS (ACCRETECH RAPID THERMAL SYSTEM HIGH SPEED)
Advanced wafer alignment unit
Dual (X & Y) moire scales
Nickel plated cold chucks, 8"
High rigidity Z stage
Alarm lamp pole
Align and PMI
Options:
Wafer ID recognition: Type 6 OCR (Top side only)
Needle cleaning: Block type (100mm x 200mm x Brush)
Probe mark inspection
Multi site parallel probing: 28 DUT
ACCRETECH GP-IB Interface
Remote terminal: Full remote control
System level change log
Ethernet interface
S2-93 Compliance
Smart PMI
Automatic PC changer
2011 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 2000 ist ein Prober für Wafertests und -analysen. Es ist ein vollautomatischer und robotergestützter Wafer-Prober, der eine vollständige Kontrolle über Wafer-Test- und Analyseprozesse bietet. TSK UF 2000 ist in der Lage, Wafer einzeln und an mehreren Standorten zu testen und zu analysieren und kann Wafergrößen von 12 bis 300 mm aufnehmen. Es verwendet fortschrittliche, modernste Technologie, um eine konsistente und zuverlässige Leistung zu gewährleisten. Das Gerät ist mit mehreren Komponenten wie einer 4-Achs-Scanning-Antriebsstufe, einem Wafer-Handling-Roboter, Testkopf/Donut-Bühne, mechanischer Spannung und einem Kollisionspräventionssystem ausgestattet. Der Wafer-Handling-Roboter hilft beim Bewegen von Wafern von internen Kassettenschlitzen zu einer externen Transferstation und umgekehrt. Die 4-Achs-Scan-Antriebsstufe ermöglicht eine genaue und zuverlässige Positionierung des Wafers auch bei Hochgeschwindigkeitsprüfungen. Die Testkopf-/Donut-Stufe unterstützt beim Probentest und bietet eine breite Palette von Testfunktionen wie Thermotest, Scherkrafttest, AFM, Kernmagnetresonanz und Lithographie. Die mechanische Spannung hilft bei der genauen und zuverlässigen Ausrichtung des Wafers im Prober und ermöglicht präzise und konsistente Testergebnisse. Die Kollisionsschutzeinheit hilft bei der Kollisionserkennung und bietet eine sichere Betriebsumgebung. Darüber hinaus ist ACCRETECH UF2000 mit benutzerfreundlicher Software ausgestattet, die sich problemlos in andere Prober- und Testsoftware integrieren lässt und erweiterte Funktionen und Flexibilität ermöglicht. Insgesamt ist ACCRETECH UF 2000 ein Roboter-Wafer-Prober, der sich hervorragend für Wafer-Tests und -Analysen eignet. Seine fortschrittliche Technologie ermöglicht zuverlässige und genaue Testprozesse, während seine benutzerfreundliche Software die Flexibilität und Fähigkeit der Maschine erheblich verbessert. Es ist ein großartiges Werkzeug für jede professionelle Arbeit mit Wafern und sollte bei der Suche nach einem Prober berücksichtigt werden.
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