Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 2000 #9251564 zu verkaufen

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Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 2000
ID: 9251564
Weinlese: 2011
Prober, 5"-8" ARTS-HS Thermal unit included Temperature range: -40°C to +150°C Main control system: Pentium 4, 2.0 GHz (P/N: 293100) Hard Disk Drive (HDD): 40GB Operating system: VxWorks (P/N: 247853) UF2000 O/S Rev: S5.13.08 or higher Magneto optical disk drive / USB (P/N: 247850) Head stage for NEXTEST Magnum / TERADYNE J750 Adapter ring (25) First and second cassette loader wafers (5"-8" Wafers) Includes with PC unit : COGNEX 8500 Vision system Align and PMI Manual wafer inspection transfer unit Dual robotic wafer transport arms Pre-alignment stage unit Capacitive non-contact displacement sensor (P/N: 293311) Advanced wafer alignment unit Dual moire scales (X and Y) High rigidity Z stage Color LCD control panel with touch panel switches (P/N: 248900) Alarm lamp pole (P/N: 247820) Nickel plated cold chuck, 8" (P/N: 249015) ARTS-HS Chiller unit (ACCRETECH Rapid Thermal System High Speed) Wafer ID recognition option: Type 6 OCR Needle cleaning option (Block type: 100 mm x 200 mm and brush) Probe mark inspection option Multi site parallel probing option (128 DUT) GP-IB Interface option: Standard ACCRETECH command Light VEGA network management option for product recipe management (Ethernet interface included) Compliance S2-93 Smart PMI Option Remote terminal option: Full remote control System level change log option Automatic PC changer 2011 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 2000 ist ein Prober, der speziell für die Prüfung und Charakterisierung verschiedener Materialien und Halbleiterprodukte entwickelt wurde. Es ist eine ultra-hochpräzise Prüf- und Messausrüstung, die in der Lage ist, extreme Gewinde auf Submikron-Niveau mit Geschwindigkeit und Genauigkeit zu erfassen. Es verfügt über eine vollautomatische Testumgebung, die eine Vielzahl einzigartiger Werkzeuge wie Stepper, lineare Langtakt-Profilierung und ein hochauflösendes Kontaktprofilometer umfasst, um die dynamische Ausübung von Proben zu ermöglichen. TSK UF 2000 prober verfügt über ein patentiertes automatisiertes Lastensystem, das Inline- oder Mehrfachproben und Ladeänderungen schnell und präzise durchführt. Darüber hinaus verfügt es über eine Dual-Color-Vision-Einheit, die für die Ausgangsausrichtung und Nullpunkt-Kalibrierung verwendet wird, die genauere und schnellere Tests ermöglicht. Der Prober verfügt auch über schlagfeste Automatisierung, staubdichtes Gehäuse und einen abgedichteten Partikelisolator. Der abgedichtete Partikelisolator verhindert, dass Verunreinigungen in die Testumgebung gelangen und die Ergebnisse beeinflussen. ACCRETECH UF2000 prober ist für den Betrieb mit minimalem Operationseingriff ausgelegt. Es verfügt über eine automatisierte Wafer-Lademaschine, ein optionales Wafer-Mapping-Tool und optionale Testzeitminimalfunktionalität. Das optionale Wafer-Mapping-Asset ermöglicht es dem Benutzer, ganze Wafer mit einem einzigen Befehl von einem PC oder Tablet zuzuordnen. Die optionale minimale Testzeitfunktion ermöglicht es Benutzern, die Testzeiten zu verkürzen, indem sie die minimale Testzeit für jedes Muster angeben. UF 2000 Prober bietet eine Vielzahl von Messfähigkeiten, einschließlich Feinwinkelmessung, erweiterte Wafer-Routing, 3D-Oberflächenprofilierung, Werkzeugmodellmessung und 4roof Scannen. Es hat auch die Fähigkeit, mit Geräten wie Stroboskopleuchten, Temperaturreglern und anderen Messgeräten zu interagieren. Es besteht aus einem robusten Aluminium- und Stahlrahmen, der sicherstellt, dass das Modell langlebig und zuverlässig ist. ACCRETECH UF 2000 prober ist ideal zum Testen und Charakterisieren von Visionssystemen, Automobilkomponenten, Halbleiterteilen und anderen Materialien. Seine fortschrittliche Automatisierung und Genauigkeit machen es zu einem wichtigen Werkzeug für die Untersuchung und Vorhersage der Teileleistung in einer Vielzahl von Branchen. Es ist eine sehr zuverlässige Ausrüstung, die es Anwendern ermöglicht, genaue und schnelle feine Details zu erfassen, um die Leistung ihrer Proben zu analysieren.
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