Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 2000 #9399175 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9399175
Weinlese: 2010
Prober
Docked: Hinge
Automatic probe card
HF: MHF4000S
Chuck stage: 120 kgf
Chuck type: Nickel
Hot chuck
Temperature range: 30°C - 150°C
Needle cleaning: Ceramic
Cleaning unit size: 110 x 205
Tester I/F: GPIB
CPU Type: ADVME 7509A
Ethernet
OCR: Type 6
Board configuration: 1/4/6/7
2010 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 2000 ist ein Prober, der typischerweise zur Analyse von elektrischen und physikalischen Halbleiterscheibeneigenschaften verwendet wird. Es ist in der Lage, Wafer bis 200 mm Durchmesser mit einer hohen Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu sondieren. Die Geräte können auch verwendet werden, um parametrische, On-Wafer, und Sonde Kartenleistung zu messen. Um zu verstehen, wie TSK UF 2000 funktioniert, ist es wichtig, sich mit den Komponenten des Systems vertraut zu machen. Die Hauptkomponenten sind eine XY-Linearstufe, eine motorisierte Z-Stufe, eine Vision-Einheit mit einer CCD-Kamera zur Ausrichtung, ein Proberarm zur Ausrichtung, ein Proberkopf zur Sondierung und eine Proberschnittstelle, die von einem Host-PC über einen seriellen Port gesteuert werden kann. ACCRETECH UF2000 Maschine ist für aktive Sondierung konzipiert und kann automatisch in die gewünschte Position bewegen und Kontakt aufnehmen. Das Tool ermöglicht auch die manuelle Sondierung und Ausrichtung. Mit der motorisierten Z-Stufe kann der Spalt zwischen Gerätefläche und Sonde gesteuert werden, wodurch ein gleichmäßiger Kontakt aufrechterhalten wird. Das Vision-Asset mit CCD-Kamera wird verwendet, um das Gerät und die Waferoberfläche zu erkennen, während der Proberkopf verwendet wird, um Testkontakte auf dem Gerät zu überprüfen und Daten zu sammeln. Der Proberkopf kann entweder manuell bewegt oder automatisch unter der Steuerung des Host-PCs betrieben werden. Zusätzlich wird eine Prober-Schnittstellenkarte verwendet, um den Proberkopf mit dem Host-PC zu verbinden. Das Modell ACCRETECH/TSK UF2000 ermöglicht die direkte Abtastung von Kontaktpunkten mit aktiver Parametermessung sowie Prüfkartenprüfung und Kontaktwiderstandsmessungen. Darüber hinaus ist das Gerät mit einer Vielzahl von Software-Tools wie Test Ace und DC/AC Test Pro ausgestattet. Diese können verwendet werden, um Tests zu programmieren und Parameter wie Spannung, Strom, Leistung und Widerstand zu messen. Insgesamt ist ACCRETECH UF 2000 ein leistungsstarker und vielseitiger Prober, der für verschiedene Testoperationen für Halbleiterbauelemente eingesetzt werden kann. Das System ist mit vielen Funktionen wie einfacher Ausrichtung, motorisierter Z-Stufe, aktiver Sondierung und Parametermessung ausgestattet und kann zuverlässige Prüfvorgänge effizient durchführen.
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