Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200A/AL #9395547 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200A/AL ist ein Prober zur Prüfung einer Vielzahl von Halbleitersubstraten. Es bietet fortschrittliche Funktionen für präzise und zuverlässige Messungen von Transistor-, Kondensator- und Gate-Strukturen. TSK UF200A/AL ist mit einem Hochleistungs-Prober-Kopf, lasergeschriebenen Aluminium-Sondenkarten und offener Loop-Gap-Steuerung ausgestattet. Diese Komponenten bieten zusammen mit einer Hochleistungsoptik und einem leistungsstarken Motor eine großartige Kombination für die genaue Sondierung von Geräten bis zu 5 μ m bei minimalen Ausrichtungsproblemen. Darüber hinaus kann sie mit der eingebauten Kraftsteuerung eine Vielzahl von Belastungskräften im Bereich von 0,1 bis 10g bewältigen. Darüber hinaus bietet ACCRETECH UF 200AAL optionale integrierte Wafer-Charakterisierungssysteme an, die es Anwendern ermöglichen, die Signalleistung bei minimaler Rüstzeit und ohne komplizierte externe Instrumentenanschlüsse schnell zu analysieren. Dadurch ergibt sich eine verbesserte Testumgebung zur Messung von Ausgängen und Geräteeigenschaften wie programmierbare Logik- und Speichereinrichtungen. Für zusätzlichen Komfort verfügt UF 200 A/AL über eine integrierte XY-Tabelle. Dies ermöglicht es Benutzern, den Wafer unter dem Tastkopf leicht zu bewegen und zu positionieren, was eine überlegene Ausrichtung und Platzierung der Sonden über den Wafer ermöglicht. Dies gewährleistet genaue und wiederholbare Testergebnisse für jedes Gerät. Um Sicherheit und Geräteschutz zu gewährleisten, ist ACCRETECH UF 200 A/AL mit Hochspannungsschutzschaltungen ausgestattet. Dadurch werden Beschädigungen der Tastkarten und Wafer durch Überspannung vermieden. Darüber hinaus ermöglicht das Intelligent Status Monitor System Benutzern die Überwachung des On-Prober Status und der Parameter, bietet ein zuverlässiges Werkzeug für die Diagnose von Problemen und sorgt für einen optimalen Betrieb. Darüber hinaus verfügt UF 200A-AL auch über ein einfach zu bedienendes Softwarepaket, mit dem Benutzer Testprogramme erstellen und Sonden am Wafer ausrichten können. Dies schafft eine benutzerfreundliche und effiziente Testeinrichtung, die schnelle und genaue Ergebnisse gewährleistet. Insgesamt bietet ACCRETECH/TSK UF 200 A/AL eine leistungsfähige und zuverlässige Lösung für die Halbleiter-Wafer-Sondierung und -Prüfung. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen wie Hochleistungs-Proberkopf, lasergeschriebene Aluminium-Sondenkarten, Open-Loop Gap Control, Force Control, integrierter XY-Tisch und Hochspannungsschutzschaltungen erleichtert es eine verbesserte Testumgebung für schwierige Testaufgaben. Dies kombiniert mit den integrierten Charakterisierungssystemen und dem benutzerfreundlichen Softwarepaket macht UF 200A/AL zu einer idealen Wahl zum Testen und Sondieren eines Arrays von Halbleitersubstraten.