Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200A #9268254 zu verkaufen
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ACCRETECH/TSK UF 200A ist ein leistungsstarker und kompakter Prober, der für Wafer- und blanke Stempelprüfungen entwickelt wurde. Mit seiner hohen Genauigkeit, hohen Leistung und hervorragenden Umweltverträglichkeit ist TSK UF200A prober die beste Wahl für eine breite Palette von Testanwendungen. Herzstück von ACCRETECH UF 200 A prober ist seine fortschrittliche fünfachsige Wafer-Positionierausrüstung. Dieses System ist in der Lage, einen Wafer mit einer Größe von bis zu 600 Millimetern zu positionieren und 2048 Punkte in einem einzigen XY-Scan zu sondieren. Die Scanzeit beträgt 0,75 Sekunden/Punkt, weniger als 30 Sekunden in einer XY-Matrix. TSK UF 200A prober verfügt auch über eine erweiterte Prober-Steuereinheit, die den Testanforderungen des Kunden entspricht. Es ist sowohl für kommerzielle als auch für Laboruntersuchungen konzipiert, so dass es in Anwendungen von der Produktqualifizierung bis zur Waferherstellung verwendet werden kann. Der Prober kann auch programmiert werden, um mehrere Produkttypen zu testen. ACCRETECH UF200A prober bietet darüber hinaus eine umfassende Palette von Wafer- und Gesenksondierungs- und Analysefunktionen. Es ist mit einer hochpräzisen und hochgeschwindigkeitsgetriebenen linearen Stufe ausgestattet, die eine präzise Ausrichtung des Wafers ermöglicht. Es verfügt außerdem über eine 8-Zoll-Positioniergenauigkeit, die sowohl mit dem Line-Grid-Array als auch mit der Schütz-Sondierung kompatibel ist. ACCRETECH/TSK UF200A prober ist mit einer breiten Palette von Sondensystemen ausgestattet, darunter die AMP025 Tridrahtsonde, die ProbeGen564 und ProbeLynx280 Systeme sowie die 4-Draht-, 5-Draht- und 6-Draht-Entkappungssysteme. Es kommt auch mit einer modernen benutzerfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche und einer Datenkommunikationsschnittstelle, die es Benutzern ermöglicht, den Testprozess zu überwachen und den Prober fernzusteuern. UF 200 A Prober ist auch mit einem eingebauten temperaturgesteuerten Waferhalter ausgestattet, der Wafer-Traumata während des Tests verhindert. Um die Positioniergenauigkeit des Wafers zu gewährleisten, kommt der Prober mit neuartigen Vakuum- und Pneumatiksystemen. Es verfügt auch über eine schnelle und genaue Sonde Positioniermaschine, die zuverlässige Leistung auch unter extremen Bedingungen gewährleistet. UF200A Prober ist für die strengen Anforderungen der Automatisierung und semiautomatisierten Prozesse konzipiert, die eine hohe Genauigkeit und wiederholbare Leistung erfordern. Dank seiner hervorragenden Eigenschaften und Leistung ist UF 200A prober die perfekte Lösung für eine Vielzahl von Testanwendungen.
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