Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200A #9274680 zu verkaufen

Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 200A
ID: 9274680
Prober, 8" COGNEX 8200 Hot nickel chuck MHF-300L Hinge manipulator 2003 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200A ist ein vollautomatischer Wafer-Prober, der präzise Wafer-Sondierung, Prober-Kalibrierung und Messfunktionen bietet. Es wurde entwickelt, um genaue und wiederholbare Messungen auf einer Vielzahl von Substraten, einschließlich GaAs und InP-Substraten, bereitzustellen. Der Prober ist in der Lage, bis zu 200 mm Wafer zu sondieren, und kann mit seinem Hochgeschwindigkeitsschrittmotor Substrate bis zu 200 mm schnell bewegen. Der Prober umfasst ein Vakuumfutter und Hi-6 Präzisionsstufe, die ein flexibles und wiederholbares Substratpositioniersystem bieten. Es verfügt auch über ein fortschrittliches Stanz- und Stanzsystem, das Stempel bis zu 10 Mikrometer genau in die Höhe platzieren kann. Der Prober ist mit einer leistungsstarken Rückseitenkamera ausgestattet, die Bilder von der Position und Größe der Matrize aufnehmen kann. TSK UF200A ist mit einer Kombination aus hochpräzisen Motoren und fortschrittlichen Sensoren konzipiert, die einen genauen Prozess während des Proberbetriebs bieten. Der Prober ist mit einem visuellen Berichtssystem ausgestattet, das ein automatisiertes Auslesen von Sondenpunkten, Ausrichtungsergebnissen und die Platzierung von Stempel zu Stempel für bis zu 32 Stempel ermöglicht. Der Prober umfasst auch verschiedene digitale und analoge E/A-Ports sowie eine High-Speed-Ethernet-Konnektivität, die Überwachungs- und Fernzugriffsfunktionen bietet. Der Prober verfügt zudem über programmierbare Alarmgrenzen, die es Anwendern ermöglichen, sofort zu erkennen, ob die Messergebnisse aus Spezifikationsparametern bestehen. ACCRETECH UF 200 A ist auch mit verschiedenen integrierten Messtechnik-Systemen ausgestattet und kann Wafer nach verschiedenen konventionellen Standards messen. Der Prober ist in der Lage, mit einer 24-Punkt-Sondenkarte zu sondieren und die optische Ausrichtung und Oberflächenrauhigkeit an jedem Punkt zu messen. Es hat auch die Fähigkeit, sowohl Form- als auch Oberflächenrauhigkeitseigenschaften auf mehreren Substraten in einem Arbeitsgang zu messen. Darüber hinaus hat der Prober die Fähigkeit, mit der Hi-7 hochpräzisen Stufe und ± 50 μ m XYZ Feinausrichtung schnelle und präzise Positionsmessungen zu messen. Mit seinen erweiterten Kalibrierfunktionen kann der Prober während seines gesamten Lebenszyklus eine hohe Genauigkeit beibehalten. UF 200A ist ein führender Wafer-Prober und bietet eine breite Palette von Funktionen für genaue und wiederholbare Messungen auf Substraten bis 200 mm. Mit seiner Kombination aus hochpräzisen Motoren, fortschrittlichen Sensoren und integrierten Messtechnik-Systemen ist der Prober in der Lage, präzise Messergebnisse zu liefern und eine hohe Genauigkeit über seinen gesamten Lebenszyklus aufrechtzuerhalten.
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