Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200A #9283853 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200A ist ein Prober, der vom Joint Venture TSK und Tokyo Seimitsu Kikai Co. entwickelt wurde. Ltd. Dieser Prober wurde entwickelt, um genaue und wiederholbare Messungen von Halbleiterbauelementoberflächen auf Waferebene bereitzustellen. Die UF-Serie von Probern verfügt über eine Autofokus-Fähigkeit und ist entworfen, um eine Vielzahl von elektrischen, mechanischen und optischen Charakterisierungen auf Substraten zu machen. Physikalisch besteht TSK UF200A aus einer beweglichen Tisch- und Armbaugruppe, einem Manipulator wie einem Gelenkarm, einer visuellen Inspektionskamera und einem Sondenhalter. Die Tisch- und Armanordnung kann so eingestellt werden, dass die Sonden, die am Arm montiert sind, auf die vom Substrat benötigte Sondenposition ausgerichtet werden. Zur Positionierung von Sonden kann auch ein manueller oder automatischer Mechanismus verwendet werden. Der Gelenkarm dient dazu, die Sonden zum Substrat hin zu orientieren und ihre Position nach Bedarf einzustellen. Der Gelenkarm kann auch so eingestellt werden, dass die Sonden in direktem Kontakt mit dem Substrat stehen. ACCRETECH UF 200 A ist in der Lage, eine Vielzahl von elektrischen Messungen wie Strom, Spannung, Kapazität, Widerstand und Leckstrom durchzuführen. UF200A bietet auch integrierte Tests für vier verschiedene Sondentypen wie Einzelkontakt, Doppelkontakt, vier Kontakt- und Mehrkontaktsonden. Die integrierten Prüfmöglichkeiten ermöglichen die gleichzeitige Messung von vier verschiedenen Temperaturen aus demselben Substrat. Im Hinblick auf seine visuellen Inspektionsmöglichkeiten ist ACCRETECH/TSK UF 200 A mit einer hochauflösenden CCD-Kamera und einem optionalen Feldmonitor zur Betrachtung sowohl der Außenseite als auch der Innenseite des Substrats ausgestattet. Diese Funktion ermöglicht die einfache Fehlerbehebung von Materialfehlern und strukturelle Schwäche im Gerät. UF 200 A verfügt auch über eine Vielzahl von Messanschlüssen, so dass zahlreiche externe Geräte wie Temperaturregler und externe Verstärker angeschlossen werden können. Auf diese Weise kann ACCRETECH UF200A problemlos in ein bestehendes automatisiertes Wafer-Prüfgerät integriert werden. Darüber hinaus verfügt ACCRETECH UF 200A über eine ausgeklügelte elektronische Steuerung, die Sondierungssequenzen, Geschwindigkeitseinstellungen und Pins sowie weitere notwendige Informationen speichert. Diese Einheit ermöglicht eine verbesserte Betrachtung, Interpretation und Analyse von Daten. Abschließend ist TSK UF 200A ein fortschrittlicher Prober, der entwickelt wurde, um genaue und wiederholbare Messungen von Halbleiterbauelementoberflächen auf Waferebene bereitzustellen. Die Kombination aus integrierten Testfunktionen, visuellen Inspektionsmerkmalen und umfassender elektronischer Steuerungsmaschine macht es ideal für die Integration mit automatisierten Wafer-Prüfsystemen.