Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200AL #293591456 zu verkaufen

Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 200AL
ID: 293591456
Weinlese: 2003
Prober Nickel chuck Cleaning pad OCR Temperature: Room / Hot 2003 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200AL ist ein Prober, der entwickelt wurde, um Wafer-Level-Tests von integrierten Schaltungen durchzuführen. Es ist mit einem zweidimensionalen Messkopf ausgestattet, der eine Hochgeschwindigkeits-, selbstkalibrierende Wafer-Pegelprüfung ermöglicht. Der Prober bietet überlegene Genauigkeit und Auflösung in X-Y- und Theta-Positionen mit eigener Erkennungsausrüstung, Servosystem und Positionsgenauigkeit. TSK UF200AL prober ist mit einer schrittmotorisch fokussierten Positioniereinheit ausgestattet, die die Bewegung und Ausrichtung eines Wafers zur Prüfung ermöglicht. Der Motor bietet eine extrem reibungsarme Umgebung, die eine Hochgeschwindigkeits-Waferbewegung von bis zu 6 Zoll pro Sekunde ermöglicht. Die Positionsgenauigkeit des Prüfkörpers beträgt 0,5 Mikrometer, was eine hochpräzise Wafer-Sondierung und -Prüfung ermöglicht. Der Prober enthält eine eingebaute Vakuummaschine, die eine Vielzahl von Beschleunigungsverfahren unterstützt, wie Schwerkraft, Vakuum und Federkraft. Diese Methoden helfen, eine stabile Testplattform für genaue Testergebnisse zu gewährleisten. Der Prober kann auch zum Einspannen oder Würfeln verwendet werden und eignet sich somit für verschiedene Arten von Integrationsstrategien während des Produktionsprozesses. Der Prober ist mit einer Digitalkamera ausgestattet, um eine verbesserte Ausgabe durch die Identifizierung von Verifikationspunkten bereitzustellen. Diese Digitalkamera ist in der Lage, Bilder in 2D-, 3D-Digitalbildern und stereoskopischer Sicht aufzunehmen. Diese Digitalkamera ist mit einem Messwerkzeug integriert, um wiederholbare, nicht verzerrte, höhere Genauigkeiten bei XY- und Bogen-Theta-Positionsmessungen bereitzustellen. ACCRETECH UF 200 AL prober kommt auch mit einer eingebauten Videobearbeitungseinheit. Dieses Gerät kann Videobilder in Echtzeit analysieren und vergleichen, was bei der Erkennung von Fehlern und Defekten auf dem Wafer hilft. Das Asset kann auch Multi-Level-Sondierung für eine Vielzahl von Anwendungen unterstützen. In Sachen Steuerung bietet UF 200AL prober mehrere Möglichkeiten. Es enthält einen flexiblen programmierbaren Controller sowie eine dedizierte offene Desktop-Anwendung. Diese Anwendung ermöglicht die Offline-Programmierung, das Bedientraining und die Einstellung von Parametern wie Geschwindigkeit, Positionsgenauigkeit und Druckausgleich. Alle diese Funktionen kombinieren, um UF200AL zu einer idealen Wahl für Wafer-Level-Tests und Sondierungsanforderungen zu machen. Seine Positionsgenauigkeit und Vielseitigkeit machen es zu einer zuverlässigen und genauen Wahl für Produktion und Qualitätskontrolle. Mit seiner Fähigkeit, die Vorteile der fortschrittlichen digitalen Bildgebungstechnologie zu nutzen, kann der Prober Genauigkeit und Wiederholbarkeit nachweisen und zuverlässige und wiederholbare Testergebnisse liefern.
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