Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200AL #9283903 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200AL Prober ist ein Nadelprober, der für die Wafer-Sondierung entwickelt wurde und für elektrische Tests in der Halbleiterherstellung verwendet wird. Es hat eine kompakte Bauweise, die hohe Wiederholbarkeit und Genauigkeit für Wafer bis 200 mm Durchmesser bietet. Der Prober ist für einen hohen Durchsatz mit einer Zykluszeit von nur 8,5 Sekunden pro Futterbewegung und einem Durchsatz von bis zu 720 Wafern pro Stunde ausgelegt. Der Prober ist mit einer fortgeschrittenen Sondenkarte ausgestattet, die Genauigkeit von +/- 0,5 Mikrometer und Wiederholbarkeit von +/- 0,1 Mikrometer bietet. Es enthält auch eine motorisierte Sonde Kartenlader und Entlader, mit der Handhabung entweder Band oder Tray Wafer. Der Prober hat eine einstellbare Spannfutterausrichtungsgenauigkeit von +/- 3 Mikrometer in beiden Achsen, ausgezeichnete Ebenheit und eine sehr niedrige Lebensdauerschwankung. Der Prober verfügt über eine einfach zu bedienende programmierbare Schnittstelle, mit der Benutzer den Prober nach ihren Bedürfnissen konfigurieren können. Der Prober enthält auch eine Reihe von dedizierten Softwarepaketen, so dass Benutzer Testparameter einfach einrichten und optimieren können. Der Prober ist auch mit bestehenden Testplattformen wie Accra und TC2 kompatibel, sodass Benutzer den Prober problemlos mit Steuerungssystemen für Setup und Bedienbarkeit verbinden können. Neben den elektrischen Prüfmöglichkeiten bietet TSK UF200AL prober auch Temperatur- und Feuchtigkeitsmessung sowie Wechselstrom- und Gleichstromleistungsmessung und Genauigkeit von +/- 0,1% während der Messung. Der Prober verfügt über integrierte Schutzfunktionen für Wafer und mechanischen Schutz, wie Jig-Befestigung, um eine maximale Sicherheit der Geräte und Messgeräte zu gewährleisten. Insgesamt ist ACCRETECH UF 200 AL Prober eine leistungsfähige, zuverlässige Wafer-Sondierungslösung für effiziente elektrische Tests und Datenerfassung. Es bietet hervorragende Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Durchsatzfähigkeit und ermöglicht eine effiziente Prüfung und Datenerfassung größerer Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 200 mm. Die integrierten Schutzfunktionen sorgen zudem für maximale Sicherheit und Genauigkeit der Prüfparameter.