Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200FL #9395552 zu verkaufen

Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 200FL
ID: 9395552
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2000
Wafer prober, 8" 2000 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200FL ist ein Prober zur Prüfung und Auswertung von Halbleiterbauelementen und integrierten Schaltungen in einer Produktionsumgebung. TSK UF200FL ist eine automatisierte Sondenstation mit einer großen Arbeitsfläche von 470mm x 460mm (18.5in x 18in). Es verwendet eine Dual-Sonde-Ausrüstung mit acht Spitzen für die Handhabung großer Proben und hoher Stiftanzahl. ACCRETECH UF 200 FL verfügt über einen Hochleistungs-Bewegungsregler und ein lineares Lagersystem, das eine präzise Platzierung und Wiederholbarkeit der Sonden auf den Prüfmustern gewährleistet. Der Prober ist mit einer 6-Achsen-Bewegungsachse ausgestattet, die eine 300mm x 300mm (12in x 12in) XY-Translation, einen Z-Achsbereich von 25mm (0.98in) und einen Theta-Bereich von +/- 4,5 Grad bietet. Dies ermöglicht eine hochauflösende Sondierung von 0,5 μ m (20 μ Zoll) in der X- und Y-Achse und 0,1 μ m (4 μ Zoll) in der Z-Achse. Der Prober bietet fortschrittliche Funktionen wie eine Vision-Alignment-Einheit, eine Pick-and-Place-Liefermaschine, optionale Wafer-Handling-Systeme und einen T-Bar-Kalibrier- und Wellenlängenmonitor. Es bietet auch eine breite Palette von digitalen und analogen Fähigkeiten für genaue Messungen. ACCRETECH UF200FL ist mit einem schwingungsarmen Absorptionswerkzeug ausgelegt und weist minimale elektrische und mechanische Geräusche auf. Es ist in einem speziellen vergrößerten Gehäuse aus Aluminium untergebracht und gut isoliert. Das Gehäuse verfügt auch über eine rezirkulierende Klimaanlage, die das Innere der Einheit auf einer angenehmen Temperatur hält. ACCRETECH UF 200FL ist ein vielseitiger, zuverlässiger und kostengünstiger Prober, der sich ideal für Serientests eignet. Seine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit machen es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet. Mit seinem Leistungsspektrum ist TSK UF 200FL eine ausgezeichnete Wahl für die Prüfung von ICs und anderen Halbleiterbauelementen.
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