Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200R #293589187 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200R prober ist ein vielseitiges und hochzuverlässiges Inspektionssystem zur Verifizierung von Waferproduktionsprozessen mit Schwerpunkt auf der Probenahme einer breiten Palette von Wafern, von klein bis extra groß. Es bietet Anwendern eine hohe Genauigkeit und Präzision in der Messvorrichtung und Prozessleistung. TSK UF200R prober ist eine einfach zu bedienende, leistungsstarke und kostengünstige Lösung zur Durchführung einer Vielzahl von Prozessauswertungen, von optischen und elektrischen Messungen bis hin zu Klein- und Großflächenscannern, sowie 2D MICROSCAN zur visuellen Inspektion. ACCRETECH UF 200 R Prober wurde mit einer Kombination aus optischen, bildgebenden und elektrischen Messsystemen entwickelt, um die genauesten und präzisesten Messungen von Halbleiterbauelementparametern bereitzustellen. Es bietet eine Auswahl von vier verschiedenen Werkzeugen, die jeweils eine effiziente und präzise Bedienung bieten: spektrale Strahlkraft, elektrische Messung, Bildanalyse und der neu hinzugekommene 2D MICROSCAN. Die offene Architektur des Instruments ist mit vielen Arten von Lichtquellen und optischen Komponenten kompatibel, sodass Benutzer die Genauigkeit und Auflösung des Instruments maximieren können. UF200R verfügt auch über einen hochempfindlichen und genauen motorisierten Kondensator, der ultraschnelle optische Messungen und eine robuste Leistung bei Abtastgeschwindigkeiten von bis zu 50 kHz ermöglicht. Diese Funktion ermöglicht schnelle Messungen, hohen Durchsatz und zuverlässige Ergebnisse für Wafer-Produktionsprozesse. Das elektrische Messsystem am Prober ermöglicht auch schnelle hochauflösende Messungen der elektrischen Leistung einer Schaltung, wie Widerstand, Kapazität und Verbindungsspannung. ACCRETECH/TSK UF200R verfügt zudem über ein umfassendes Softwarepaket, das die Bedienung des Systems vereinfacht und es Anwendern ermöglicht, Messungen mit innovativen Möglichkeiten zur Datenanalyse schnell einzurichten und durchzuführen. Dazu gehören grafische Anzeigen und Bildanalyse-Tools, einschließlich Oberflächentopographie und Micron-Level-Plotting-Funktionen. Die Software enthält auch eine ganze Reihe von Verbindungsoptionen, wie Datenbankverbindungszugriff, Web-Fernbedienung und sicherer Passwortschutz. Insgesamt ist ACCRETECH/TSK UF 200 R ein effektives und zuverlässiges Werkzeug zur Durchführung genauer und präziser Waferprozessbewertungen. Die Kombination aus modernster Technologie und leistungsstarker Software ermöglicht dem Anwender zuverlässige und schnelle Messungen mit unübertroffener Genauigkeit und Präzision. Mit seinem breiten Leistungsspektrum ist TSK UF 200R ideal für die Überprüfung von Produktionsprozessen, die Probenahme einer Vielzahl von Wafern und die Durchführung fortschrittlicher Analysen.