Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200R #293591573 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200R ist ein leistungsstarker Wafer-Prober, der entwickelt wurde, um den Anforderungen moderner Halbleiterbauelementproduktion und fortschrittlicher Forschung gerecht zu werden. TSK UF200R prober ist eine automatisierte, multifunktionale Ausrüstung, die verwendet werden kann, um eine breite Palette von Halbleiterbauelementen zu überprüfen und zu testen, von ultraempfindlichen MEMS-Geräten bis hin zu komplexen erweiterten Wafer-Baugruppen. ACCRETECH UF 200 R verfügt über einen fortschrittlichen Fünf-Achsen-Mechanismus, der eine überlegene Genauigkeit und schnelle Sondierung über seinen gesamten Arbeitsbereich bietet. Dieses System ermöglicht eine schnelle Sondierung jeder Teststruktur, ohne die Sondenausrichtung manuell einstellen zu müssen. Mit der optionalen optischen Messtechnik kann ACCRETECH/TSK UF 200 R Distanzen bis zu acht Mikrometer genau messen. Die fortschrittliche optische Messtechnik-Maschine von UF 200R besteht aus einem anpassbaren Messbereich, der mit einem ultrapräzisen berührungslosen Pixelantrieb-Laserwerkzeug gemessen wird. ACCRETECH UF200R verfügt zudem über ein integriertes Auto-Zoom-Zoomobjekt, das beim Messen automatisch auf den interessierenden Bereich zoomt. Das Modell bietet auch erweiterte quantitative Mikro-Inspektionsmöglichkeiten, die die Erfassung von scharfen Bildern bei Vergrößerungen von bis zu 500 Mal ermöglichen. UF 200 R ist vielseitig einsetzbar und kann eine breite Palette von Sondenkonfigurationen aufnehmen. Es kann verwendet werden, um planare und 3D-Geräte mit einer Auswahl an Sondensätzen zu testen, einschließlich Cantilever-Sonden, parallelen Kontaktsonden oder Wafer-Level-Bump-Sonden. Dadurch wird sichergestellt, dass die optimale Sondierungslösung für jede Testkonfiguration zur Verfügung steht. Es unterstützt auch eine breite Palette von Wafergrößen und Substraten, einschließlich GaAs, SiC und InP. Darüber hinaus bietet TSK UF 200R eine integrierte Bildverarbeitungsausrüstung mit integrierter CCD-Kamera, die eine vollautomatische visuelle Inspektion der Teststrukturen ermöglicht. Es unterstützt auch eine Reihe von bildgebenden Optionen, einschließlich Hell/Dunkelfeld-Messungen, Kontraststeuerung und Bildgebung mit Polarisation, sowie Volllicht-Interferometrie. ACCRETECH UF 200R ist einfach zu steuern und automatisiert über offene Schnittstellen, einschließlich mehrerer Kommunikationsprotokolle, so dass Benutzer das System einfach in ihre bestehenden Produktionslinien integrieren können. Schließlich wird UF200R mit hochwertigen Komponenten gebaut und wird von einem umfassenden technischen Support-Team unterstützt, das einen zuverlässigen Betrieb und eine hervorragende Leistung gewährleistet. TSK UF 200 R wurde entwickelt, um selbst die anspruchsvollsten Anforderungen zu erfüllen und ist eine der Top-Lösungen auf dem Markt für die Sondierung und Prüfung von Halbleiterbauelementen.