Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200R #9269335 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200R ist ein spezielles Sonden-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende Bildgebung zur Fehleranalyse, Materialcharakterisierung und Prozessüberwachung bereitstellt. Die integrierte digitale Elektronik und die benutzerfreundliche Bedienung machen TSK UF200R zur idealen Wahl für viele SEM-Anwendungen. ACCRETECH UF 200 R bietet ein Detektionssystem für einen E-Strahlstrom von bis zu 150nA, eine Quellfleckauflösung von 1,7 nm, bis zu 20,000X Vergrößerung und ein Sichtfeld von bis zu 10 mm. Es ist auch mit einer Zielstrahlführung und einem digitalen Retikel ausgestattet, mit denen Benutzer problemlos interessante Regionen lokalisieren können. Es kann auch Bilder Proben bis zu 200nm dick mit einem LOD von 20nm. TSK UF 200 R verfügt zudem über eine Neigungsstufe mit variablem Winkel, die eine breite Palette von Winkelmessungen ermöglicht. Es enthält ein integriertes Messsystem, um Daten genau und schnell zu erfassen, und ermöglicht es Benutzern, Probendicke, Beobachtungsmodus auszuwählen, ein Formular zu zeichnen und zwischen verschiedenen Erregungsmodi zu wechseln - alle von der gleichen Schnittstelle aus. Darüber hinaus verfügt UF 200 R über ein umfassendes Bild- und Analysepaket, das einen Bildeditor, einen Marker, eine Qualitätsprüfung, eine Spektralanalyse, einen filmischen Effekt und eine Farbkontrolle umfasst. Es bietet auch eine breite Palette von analytischen Werkzeugen für die Durchführung von Röntgenmikroanalyse, optische Verdichtung, elementare Zuordnung, Bildkontrastverbesserung und vieles mehr. ACCRETECH/TSK UF 200 R ist in der Lage, auch komplexe SEM-Bildgebungs- und Analyseaufgaben mit Leichtigkeit und Effizienz durchzuführen. Die kompakte Bauweise, das High-Speed-Scanning und die ausgeklügelte Software machen es zum idealen Werkzeug für Qualitätskontrolle, Fehleranalyse, Werkstoffcharakterisierung und Prozessüberwachung.