Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200S #150857 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200S Prober ist ein fortschrittliches Probersystem, das speziell zur Inspektion der Leistung und Produktionsqualität von Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Dieser Prober kann schnell und präzise Oberflächenebenheit, Temperatur, Feuchtigkeit, Verformung, Vibrationen, Dehnung und andere Parameter für verschiedene Substrate, Rahmen und andere verwandte Komponenten messen. TSK UF200S verwendet einen innovativen und zuverlässigen Mehrkanal-Scan-Algorithmus, der eine genaue und präzise Datenerfassung und -analyse gewährleistet. ACCRETECH UF 200 S ist mit modularen Komponenten konzipiert, die es Anwendern ermöglichen, ihre spezifischen Anforderungen anzupassen. Es verfügt über einen leistungsstarken Prozessor mit einer großen Speicherkapazität, die eine schnellere Datenerfassung und -analyse ermöglicht. Der Scanner ist mit einer CCD-Kamera und einem integrierten Mikroskop mit Zoomobjektiv integriert, um hochauflösende Bilder der zu testenden Probe bereitzustellen. Seine einstellbare Mikroskopstufe kann sich entlang der x-Achsen-, y-Achsen- und z-Achsenrichtung bewegen. Es ermöglicht eine extrem breite Palette von Messungen, wie hochauflösende Bilder der Probe, Winkel- und Linearmessungen, Oberflächenebenheit, Fläche, Neigung und andere Parameter. TSK UF 200 S umfasst auch eine Vielzahl von Prüfkopfmodulen und eine Reihe von Messzubehör. Durch die Integration in diese Komponentenmodule können Anwender ganz einfach ein komplettes Testsystem erstellen und ihren Testprozess optimieren. Es bietet auch leistungsstarke Softwarepakete, die Benutzern einen kompletten Funktionsumfang für Hardware, Datenverarbeitung und -analyse, Reporting und andere Funktionen bieten. ACCRETECH/TSK UF200S verfügt über eine breite Palette von Funktionen, die es dem Anwender ermöglichen, verschiedene Probeneigenschaften schnell, genau und zuverlässig zu messen. Es bietet eine große Probenfläche von bis zu 400 Quadratmillimeter und eine präzise Scanauflösung von bis zu 0,5 Nanometern. Es kann auch Höhenunterschiede bis zu 1 Nanometer messen. Darüber hinaus gewährleistet seine genaue Positioniergenauigkeit eine präzise Platzierung der Probe auf dem Prober. Darüber hinaus ermöglicht eine hohe Abtastzeit von 10 ms dem Anwender, schnell eine große Menge an Proben zu messen. Insgesamt ist ACCRETECH UF 200S ein fortschrittliches Probersystem mit einer Vielzahl von Funktionen, um die Leistung und Produktionsqualität von Halbleiterbauelementen genau zu messen. Es bietet einen präzisen und zuverlässigen Scanalgorithmus, modulare Komponenten und leistungsstarke Softwarepakete, die das Testen und Analysieren einfacher und effizienter machen. UF 200S ist eine ideale Wahl für Unternehmen, die die Genauigkeit und Effizienz ihres Testprozesses maximieren möchten.