Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200S #9270790 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200S ist ein Atomkraftmikroskop (AFM), das zur Sondierung von Strukturen aus nanoskaligen Materialien verwendet wird. TSK UF200S ist ein hochauflösendes, rauscharmes AFM mit einer großen Probengröße, das es für Anwendungen in der Halbleiter-, Bio- und Materialforschung geeignet macht. Das AFM wurde entwickelt, um die Abmessungen von nanoskaligen Merkmalen mit hoher Genauigkeit zu messen. ACCRETECH UF 200 S ist mit einem Hochgeschwindigkeits-ZDrive ausgestattet. Diese Funktion ermöglicht schnelles Samplescannen und eine verbesserte Zeitauflösung. Der ZDrive wird auch verwendet, um die Scanparameter zu steuern, so dass der Benutzer schnelle und genaue Messungen vornehmen kann. Darüber hinaus verfügt ACCRETECH/TSK UF 200 S über eine hohe Sondenauflösung und eine geringe Rauschstruktur, wodurch der Benutzer Merkmale von bis zu einigen Nanometern Höhe und Breite genau messen kann. Ein weiteres Merkmal von UF 200 S ist seine hochwertige Bildgebungsfähigkeit. Die AFM verwendet eine Cantilever-Sonde und verfügt über eine Bildauflösung von einzelnen Pixeln. Dieses System ist in der Lage, Bilder von Nanostrukturen mit großer Präzision zu erzeugen. Darüber hinaus verfügt das AFM über eine integrierte thermische Kammer, mit der die thermischen Eigenschaften von Materialien durch Überwachung ihrer Temperaturprofile untersucht werden können. UF200S verfügt auch über eine erweiterte Software-Suite, die eine breite Palette von Funktionen für die Bedienung und Analyse von AFM-Bildern bietet. Diese Software ermöglicht es dem Anwender, topographische Merkmale wie Oberflächenrauhigkeit, Schritthöhe und Profil sowie Linienbreiten einfach zu messen und zu analysieren. Darüber hinaus bietet die Software auch erweiterte Analysetools wie Fourier-Transformation, Z-Durchschnitt und Linienprofilanpassung. Schließlich eignet sich ACCRETECH UF200S gut für Anwendungen mit hohem Durchsatz. Dies ist auf seinen automatisierten Scan-Workflow zurückzuführen, der eine schnelle Analyse großer Probenzahlen ermöglicht. Darüber hinaus verfügt die AFM auch über verschiedene Hardwarekomponenten, die eine effiziente Datenerfassung ermöglichen, so dass der Benutzer Zeit und Ressourcen sparen kann. Insgesamt ist TSK UF 200 S ein fortschrittliches AFM-System zur Messung von nanoskaligen Merkmalen. Seine hohe Genauigkeit und Auflösung machen es für Forschungsanwendungen in Materialien, biologischen und Halbleiterfeldern geeignet. Darüber hinaus sind der automatisierte Workflow und die fortschrittliche Software gut für Anwendungen mit hohem Durchsatz geeignet.