Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200S #9365979 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200S Prober ist eine vollautomatische Wafer-Sondenstation zur Prüfung integrierter Schaltungen. Dieses Gerät lokalisiert und positioniert automatisch Substrate zum Testen und bietet Wafer-Mapping-Funktionen. Es ist ideal für die Sondierung einer Vielzahl von Halbleitersubstraten, einschließlich Scheiben und Chips auf einer einzelnen BT (BT = Lötpaste) -Karte. Mit seinem integrierten Umweltkontrollsystem und dem schnellen thermischen Zyklus kann TSK UF200S Prober eine konstante Temperatur über die Waferoberfläche aufrechterhalten, was ein einfaches Topographie-Scannen und Wafer-Würfeln ermöglicht. Die automatisierte Wafer-Positioniereinheit bietet eine schnelle und genaue Ausrichtung über die gesamte Waferoberfläche und liefert wiederholbare Daten in Produktions- und Engineering-Anwendungen. Der Prober umfasst vier große Futterplatten und zwei kleine Futterplatten, die eine Reihe von Substraten aufnehmen können. Ein integrierter Kontaktsensor und eine Ausrichtungskamera sorgen für eine genaue, wiederholbare Sondenpositionierung und -ausrichtung. ACCRETECH UF 200 S Maschine ist für hochpräzise Kalibrierung und Messung konzipiert, und es unterstützt variable Sondenspitzen und benutzerdefinierte Schütze Parametersteuerung. ACCRETECH UF 200S Prober ist mit einer patentierten Schnellzykluszeitfunktion ausgestattet, die zusätzliche Instrumentierung überflüssig macht und die Sondenzeit drastisch reduziert. Dieses Merkmal liefert auch bessere Test- und Charakterisierungsergebnisse auf Wafer-Ebene, einschließlich On-Wafer-Sondierung und Off-Wafer-Messungen. TSK UF 200S Probing Tool wird durch eine umfassende Palette von Software-Tools unterstützt, einschließlich Programme für Mapping, elektrische Testdatensammlung und -analyse, Wafer-Sortierung und Reverse Engineering. Durch die Bereitstellung einer vollautomatischen und integrierten Testumgebung beseitigt diese Ressource manuelle Eingriffe und Fehler und verbessert die Effizienz. TSK UF 200 S Prober ist eine ausgezeichnete Wahl für den Einsatz in der Produktion, Qualitätssicherung, DFx und Charakterisierungsaufgaben in Elektronikfertigung und Forschungslabors. Seine Kombination aus Umweltkontrolle, hochpräziser Kalibrierung, wiederholbaren Daten und schneller Zykluszeit machen es zu einem unschätzbaren Vorteil in jeder fortschrittlichen Test- und Charakterisierungsanwendung.