Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200SA #9194869 zu verkaufen

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ACCRETECH / TSK UF 200SA
Verkauft
Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 200SA
ID: 9194869
Prober Tri-temp.
ACCRETECH/TSK UF 200SA ist ein Wafer-Prober, der entwickelt wurde, um die elektrische und physikalische Leistung von Halbleiterbauelementen auf mikroskopischer Ebene schnell zu untersuchen. Es ist in der Lage, bis zu zweihundert Proben unabhängig oder in Serie zu testen und kann sowohl die Verbindungen als auch die Pads des Geräts analysieren. Sein fortschrittliches Sondierungssystem ist in der Lage, Geschwindigkeiten von bis zu 50kHz zu erreichen und bietet eine maximale Auflösung von 5um. Der Rahmen von TSK UF200SA prober besteht aus einer langlebigen und temperaturstabilen Aluminiumlegierung. Dadurch kann das Gerät unter variablen Umgebungsbedingungen arbeiten und gewährleistet eine hohe Berührungsgenauigkeit zwischen Sonde und Probe. Sein Grundkörper besteht aus vier Platten, die gedreht werden können, um auf verschiedene Punkte der Vorrichtung zuzugreifen. Der Prober nutzt auch neunzig Grad Neigung und 360 ° Rotation Technologie, so dass der Zugang zu schwer zugänglichen Stellen. Der Prober wird über eine grafische Benutzeroberfläche (GUI) betrieben. Dieses Programm zeigt die Verbindungspunkte der Probe zum Prober an, sodass der Benutzer die entsprechenden Punkte auswählen und ein Schema des Geräts erstellen kann. Darüber hinaus verfügt die GUI über integrierte Selbsttestfunktionen, um Genauigkeit und Zuverlässigkeit der Messungen zu gewährleisten. ACCRETECH UF 200 SA prober ist vollständig in Mikroskope der TSK Thunder Serie integriert und kann selbst komplexeste, hochintegrierte und fortschrittliche Halbleiterbauelemente untersuchen. Es liefert genaue Ergebnisse innerhalb schneller Testzeiten und erstellt eine breite Palette von Berichten, einschließlich potenzieller Fehlermessgrößen. Die gesammelten Daten werden leicht gespeichert und ermöglichen eine sichere Verarbeitung und Analyse. Abschließend ist UF200SA Prober ein zuverlässiges und effizientes Instrument zur Prüfung der elektrischen und physikalischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen. Es ist sehr langlebig, präzise und einfach zu bedienen. Die benutzerfreundliche GUI und das umfassende Datenwiederherstellungssystem machen es zu einer idealen Lösung für jede Anwendung.
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