Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200SA #9235929 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200SA ist ein Prober zur Durchführung von Wafertests und -analysen. Es handelt sich um ein Design der nächsten Generation, das den Anforderungen von High-End-Forschungs-, Entwicklungs- und Produktionsanlagen gerecht wird. TSK UF200SA ist ein Mehrzweck-Messtechnik-Tool mit der Fähigkeit, präzise Messungen über einen erweiterten Testbereich zu liefern. Dieses Produkt kann für Nanometer-Füllstandsmessungen verschiedener Prozesse wie Cantilever Vacuum Probes (CVPs), parametrischer Test und Restgasanalyse (RGAs) verwendet werden. Es wurde für die Arbeit in Reinraumumgebungen entwickelt und ist für einen erweiterten Betrieb in einem weiten Temperaturbereich von -40C bis + 85 ° C ausgelegt. ACCRETECH UF 200 SA verfügt über einen vollautomatischen Wafer-Handhabungsmechanismus, der eine genaue Registrierung und Positionierung des Wafers auf der Wafer-Prober-Bühne ermöglicht. Die automatisierte Wafer-Handler-Ausrüstung wird mit einer einzigartigen Load Port Unit (LPU) geliefert, die hilft, die Wahrscheinlichkeit von Partikelschäden zu reduzieren. Darüber hinaus bietet das automatisierte System von TSK UF 200SA eine hohe Wiederholbarkeit bei der Leistungsmessung. Das Instrument enthält auch eine Scanning Probe Microscope (SPM) -Lösung, die eine Vielzahl von Nanotechnologie-Automatisierung bietet. Die ProTector™ Lösung, eine Mehrzwecknanotechnologienautomationseinheit, kann für den praktischen Versuch und die Defektanalyseoperationen verwendet werden. Die ProTector™ Maschine verfügt über integrierte Module wie SPM-Fernbedienung, autonomes Scannen und Testautomatisierung. Alle diese Funktionen ermöglichen es Anwendern, den Durchsatz und die Effizienz ihres Nanotechnologiebetriebs zu maximieren. ACCRETECH/TSK UF200SA verfügt auch über ein hochauflösendes Vision-Tool, das dem Benutzer hilft, die tatsächliche Form und Größe von Wafern mit höchster Genauigkeit zu identifizieren. Die hochauflösende Vision ermöglicht dem Anwender einen berührungslosen Zugriff auf die Waferoberfläche, wodurch er gepulste Messungen über den gesamten Bereich der Waferabmessungen durchführen kann, ohne physischen Kontakt herzustellen. ACCRETECH UF 200SA bietet eine komplette Reihe von Analysewerkzeugen, einschließlich CVP-Mustern und verschiedenen Spektrometern zur Charakterisierung und parametrischen Prüfung. UF 200SA ist ein hochpräziser Prober, der für eine Vielzahl von Tests und Analysen in Reinraum- und Laborumgebungen eingesetzt werden kann. Der automatisierte Wafer-Handhabungsmechanismus ermöglicht eine präzise Erfassung und Positionierung von Wafern und die Scanning Probe Microscope (SPM) -Lösung bietet eine Vielzahl von Funktionen zur Automatisierung der Nanotechnologie. Mit der ProTector™ Lösung und dem hochauflösenden Vision-Modell können Anwender präzise Messungen vornehmen, ohne den Wafer zu kontaktieren. Das Gerät kommt auch mit verschiedenen analytischen Werkzeugen für verschiedene Tests, einschließlich CVP-Muster und verschiedene Spektrometer für Charakterisierung und parametrische Tests.