Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200SA #9235935 zu verkaufen
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ID: 9235935
Weinlese: 2004
Prober
Manipulator: MHF300L2
Stage chuck: Gold chuck
Temperature control: Hot chuck
Frequency band chuck temperature: 30°C~150°C
Cleaning unit type: Ceramics pad
CPU Board version: 7507
Ethernet
Motor type: APC
Probe card holder
TFT LCD Color display, 10.4"
No OCR
Slot number / Boards
Slot 1 / CPU
Slot 4 / VGAC
Slot 6 / COGNEX
Slot 8 / PIO
Slot 10 / TTL/GP-IB
Slot 11 / 5CH PGEN
Slot 14 / CAP Sensor
Slot 16 / AVME
Slot 17 / LD. IO
Slot 18 / LD. PGEN
VME Rack / Board name / Description
1 / Master CPU / ADVME 7507
4 / VGAC2 / -
6 / ITV / COGNEX 8200
8 / PIO / -
10 / GPIB / -
11 / (5) PGEN / -
13 / Slave CPU / AVME-344A
14 / Capacitive sensor / -
16 / LD I/O-1 / AVME-115B
17 / LD PGEN-1 / -
18 / PI IO / -
ETC:
COGNEX Board version: 8200
External media: FDD, MOD
2004 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200SA ist ein Halbleiterprober, der für Wafer-Level-Tests und abschließende Testanwendungen konzipiert ist. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Testparametern auszuführen, einschließlich Strom, Spannung, Kapazität und Ein-Aus-Strom. Dieses robuste Tool bietet eine breite Palette von Automatisierungsoptionen, einschließlich vollständiger manueller Steuerung, automatisiertem Scannen und Ereigniserkennung. TSK UF200SA prober verfügt über eine geprüfte Kapazität von bis zu 200mm (im Vergleich zum UF- 150SA) und eine programmierbare z-Achse, die eine hochpräzise Wafer-Pegelprüfung ermöglicht. Darüber hinaus ist der Prober mit einem optischen Niederspannungscodierer ausgelegt, was die Kosten und die Komplexität der inkrementellen Bewegung reduziert. Es ist auch mit einer intuitiven Benutzeroberfläche ausgestattet, die eine schnelle und einfache Einrichtung von Wafertests und Testparametern ermöglicht. Der Prober ist in der Lage, Tests an rückseitigen Transistoren, Widerständen und Kondensatoren zusammen mit anderen zweidimensionalen und dreidimensionalen Strukturen durchzuführen. Das fortschrittliche Kontaktsichtsystem bietet eine genaue Ausrichtung sowie eine zuverlässige Kontaktkraft. Die Prober-Genauigkeit von 0,2 Mikrometern in Verbindung mit seinem patentierten Design von Offsetkontaktpads sorgen jedes Mal für einen zuverlässigen Kontakt. Darüber hinaus verfügt ACCRETECH UF 200 SA prober über eine Vielzahl intelligenter Testfunktionen, darunter die „Smart Attitude Console“. Mit dieser Funktion kann der Benutzer prober-Parameter remote anpassen und prober-Fehler schnell erkennen. Darüber hinaus kann der Prober verschiedene Testkonfigurationen von einem einzigen Prober-Setup ausführen, so dass Benutzer den Durchsatz bei mehreren Testtypen mit minimalem Rüstaufwand erhöhen können. ACCRETECH UF200SA prober bietet eine Reihe von Funktionen, die Anwendern in der Halbleiterherstellung sowie F & E-Anwendungen zugute kommen. Mit diesem Prober können Benutzer die Kontaktkraft minimieren, das Kontaktvolumen minimieren und einen asymmetrischen Kontakt ausführen, indem sie Kontaktpads-Muster anpassen. Es unterstützt auch das Inter-IC (I2C) Protokoll und bietet Kommunikationskompatibilität mit anderen Peripheriegeräten. Insgesamt ist TSK UF 200SA ein fortschrittlicher Prober, der Anwendern höchste Flexibilität und Effizienz bietet. Es ist ideal für Wafer-Level-Tests und abschließende Testanwendungen, mit der Fähigkeit, eine Vielzahl von Tests auszuführen, einschließlich Strom, Spannung, Kapazität und Ein-Aus-Strom. Darüber hinaus bietet es intelligente Testfunktionen und einen Niederspannungs-optischen Encoder und ist mit mehreren Peripheriegeräten kompatibel.
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