Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200SA #9270840 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200SA ist ein Mikrosondierungssystem für fortgeschrittene Halbleitertests. Es ist ein vielseitiges und zuverlässiges Werkzeug zur Inspektion, Messung und Sondierung kleiner Komponenten wie Mikroprozessoren und Speicher. Der Prober kann für Aufgaben wie Kontaktverfolgung und Ertragsanalyse verwendet werden. Hauptbestandteil des Systems ist die Proberstufe, die aus einer vertikalen piezomotorisch angetriebenen Stufe, einem Hochgeschwindigkeits-optischen Tisch und Bewegungsregler besteht. Die Proberstufe ist mit einer Sub-Mikron-Präzision ausgelegt, die hochgenaue Messungen gewährleistet. Es hat einen sehr geräuscharmen Boden, der die genaue Messung sehr schwacher Signale ermöglicht. Der Prober ist auch in der Lage, über eine breite Palette von Frequenzen über einen großen Bereich von Probengrößen zu scannen. Es ist mit einem integrierten Laserinterferometer und einer Hochgeschwindigkeits-Scanfähigkeit ausgestattet. Dies trägt dazu bei, dass die Bewegungen der Sonde auch bei hohen Scangeschwindigkeiten präzise und präzise sind. TSK UF200SA enthält auch eine automatisierte Kontaktverfolgung für die Sondierung von Komponenten. Diese Funktion ermöglicht die automatische Zuordnung zwischen den Stiften der Komponente und den Kontakten des Probers. Es unterstützt den Bediener auch bei der Ermittlung der optimalen Sondenplatzierung, um zuverlässige Kontakte zu gewährleisten. ACCRETECH UF 200 SA hat auch eine automatische Referenzpunkteinstellung, die bei der Verbesserung der Genauigkeit und Stabilität der Messungen hilft. UF 200SA ist ein zuverlässiges, vielseitiges Werkzeug für fortgeschrittene Halbleitertests. Es bietet Präzision und Zuverlässigkeit in einer Vielzahl von Anwendungen, so dass es den Anforderungen moderner integrierter Schaltungen gerecht zu werden. Es eignet sich gut zur Inspektion, Messung und Sondierung von sehr kleinen Bauteilen. Darüber hinaus verfügt ACCRETECH/TSK UF200SA über eine automatisierte Kontaktverfolgung und Referenzpunktanpassung, die den Prozess der Halbleiterprüfung zuverlässiger und effizienter macht.