Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200SA #9283882 zu verkaufen
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ID: 9283882
Weinlese: 2005
Prober
Platform: J750 / J750EX
Floppy Disk Drive (FDD)
Magneto Optical (MO) Disk
Hard Disk Drive (HDD)
Control rack:
Z-Axis driver
XY Servo drivers
Power control board
Video interface board
Power supply: (2) 24 V, 12 V, -12 V, 5 V, 48 V
VME Rack:
Slot / Board
Slot 1 / Master CPU
Slot 4 / VGA Card
Slot 5 / VGA Card
Slot 6 / COGNEX Board
Slot 8 / PIO Board
Slot 10 / GPIB Board
Slot 11 / 5-Channel PGEN board
Slot 13 / -
Slot 14 / DISP Sensor
Slot 15 / -
Slot 16 / Slave CPU
Slot 17 / Loader I/O
Slot 18 / Loader PGEN
Read side:
Driver board
F-Server driver
Theta server driver
(2) Fans
Loader side:
Loader driver board
OCR Camera
Loader sensor board
Loader axis board
Cassette cover
Elevator motor driver
Sub-chuck rotation motor driver
Turntable motor driver
(2) Transfer motor driver arms
Pre-alignment sensor
(2) Arms
Sub-chuck
Inspection tray
Temperature controller
Elevator / Clamper
Chuck top
Z-Unit
(2) XY Axis screw and motors
F-Axis screw
E1, E2 Camera module
Touch panel
Keyboard and joystick
Keyboard control board
Alarm lamp pole
Hinge: 300L
Miscellaneous:
Free stopper (Cassette cover)
Valve
Tie rod for loader / Main body
2005 vintage.
TSK/Tsubaki-UFS 200SA Prober ist ein branchenführender automatisierter Laser-Interferometer-Prober, der für elektrische und mechanische Messungen eingesetzt wird. Dieses Gerät ist mit einem hochauflösenden Messkopf mit einem extra niedrigen Z-Achsen-Profil konzipiert und bietet überlegene Genauigkeit und Präzision für die Prüfung und Messung von Halbleiterscheiben und zugehörigen Komponenten. ACCRETECH/TSK UF 200SA Prober verwendet hochgenaue Laserinterferometer, um die kleinsten Schwankungen in der Halbleiterscheibendicke, Ebenheit, Planheit und Bogen mit überlegener Genauigkeit und Präzision zu messen. Dieses System ist auch mit einer neuartigen dreidimensionalen Ausrichtungstechnologie und Mehrfachantriebseinheit ausgestattet, so dass es mit hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit auf einer Vielzahl von Substraten und Halbleiterscheiben messen kann. Darüber hinaus ermöglicht die integrierte Autofokusmaschine dem Anwender, kleine Details der Waferoberfläche mit hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu messen. TSK UF200SA Prober hat einen kleinen Platzbedarf und ist somit ideal für den Einsatz in überfüllten Laborumgebungen. Es verfügt auch über insgesamt acht inkrementelle Encoder, so dass es die Fähigkeit, Wafer Fehlausrichtung und selbst-kalibrieren, um die höchste Genauigkeit und Wiederholbarkeit von Probe zu Probe zu gewährleisten. Darüber hinaus bietet dieses Tool eine integrierte Auto-Kalibrierung Funktion, die eine hohe Genauigkeit der Messungen der miteinander verbundenen und falsch ausgerichteten Geräte zu gewährleisten hilft, sowie verfügt über einen breiten mechanischen Bereich und erhöhte Geschwindigkeit der Bedienung. ACCRETECH UF 200 SA Prober ist mit mehreren Softwarepaketen für einen effizienten Betrieb ausgestattet, einschließlich hochpräziser Tolerierung, Waferdünnung und Wafer-Warping-Korrektursoftware, um hohe Genauigkeitsmessungen zu gewährleisten. Diese Softwarepakete ermöglichen es dem Prober, sich automatisch und präzise an sich ändernde Proben und Bedingungen anzupassen, was die Präzision und Wiederholbarkeit erheblich erhöht. UF 200 SA Prober ist ein leistungsstarkes Werkzeug für die Halbleiterherstellung und bietet Anwendern branchenführende Genauigkeit und Wiederholbarkeit mit einem kleinen Platzbedarf, was es zu einer idealen Wahl für anspruchsvolle Labore macht. Kompakt und zuverlässig ist es perfekt für hochpräzise und schnelle Messungen und bietet außergewöhnliche Leistung und Effizienz.
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