Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200SA #9314157 zu verkaufen

ACCRETECH / TSK UF 200SA
Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 200SA
ID: 9314157
Weinlese: 2003
Probers With hot chuck Chuck type: Gold Wide polish pad: Ceramic pad Manipulator: MHF 300L Motor type: APC Probe card holder TFT LCD Color display, 10.4" No OCR VME Rack / Board name / Description 1 / Master CPU / ADVME 7507 4 / VGAC2 / - 6 / ITV / COGNEX 8200 8 / PIO / - 10 / GPIB / - 11 / (5) PGEN / - 13 / Slave CPU / AVME-344A 14 / Capacitive sensor / - 16 / LD I/O-1 / AVME-115B 17 / LD PGEN-1 / - 18 / PI IO / - 2003 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200SA ist ein Messtechnikprober, der entwickelt wurde, um genaue und präzise berührungslose Messungen von Halbleitermaterialien und -geräten bis zu 150 Nanometer durchzuführen. Dieser Prober kombiniert eine einzigartige Kombination aus hoher Geschwindigkeit und herausragender Genauigkeit sowohl beim Höhen- als auch beim Planaritätsscannen. TSK UF200SA wurde entwickelt, um die kritischen Anforderungen der Halbleiterrenditeverbesserung und Zuverlässigkeitsüberwachung zu erfüllen. Der Prober hat ein flexibles Design, das mit einer Vielzahl von Substraten und Geräten verwendet werden kann. ACCRETECH UF 200 SA verfügt über ein industrielles, ölfreies Luftlagersystem, das eine schnelle und genaue Positionierung der Sondenspitze über 200.000 mal/sek nach innen und außen ermöglicht. Die Ein-/Aus-Bewegung der Sonde ist in 20 Nanometerschritten mit einem Gesamtfahrbereich von 0,2 mm steuerbar. Dadurch kann der Prober die 3D-Form und Oberflächen der Substrate und Geräte ohne Kontakt genau messen. UF 200SA prober ist mit einer CCD-Kamera ausgestattet, die verwendet wird, um Wahrzeichen auf dem Substrat zu lokalisieren und die Sondenspitze genau zu positionieren. Die Kamera hat eine Auflösung von 3,2 μ m/Pixel, die in der Lage ist, sehr kleine Details in der Oberfläche des Substrats zu erkennen und zu messen. Interferenzbildgebende Technologie (IFI) wird verwendet, um die 3D-Form des Substrats zu messen und zu analysieren, wodurch die genaue Bestimmung der Oberflächenrauhigkeit ermöglicht wird. UF200SA ist mit einer Vielzahl von Softwarefunktionen ausgestattet, die eine präzise Messung verschiedener halbleiterbezogener Eigenschaften wie Koplanarität, Profilierung, Vibrationsanalyse, Ausrichtung, Neigung und Verzerrung ermöglichen. Der Prober verfügt zudem über eine automatische Kalibrier- und Ausrichtungsfunktion, um präzise Messungen zu gewährleisten. Weitere Funktionen sind die Echtzeitdatensammlung, die Echtzeitanzeige und die Datenanalysefunktionen. TSK UF 200 SA bietet eine schnelle, präzise und zuverlässige Lösung zur Messung der physikalischen Eigenschaften von Halbleitermaterialien und -bauelementen. Es wird von leistungsstarken und vielseitigen Softwareanwendungen unterstützt, die eine schnelle Messung und Analyse der Substrate und Geräte ermöglichen. ACCRETECH UF 200SA prober wird in vielen Branchen eingesetzt, darunter Halbleiterproduktion, Automobilindustrie, Glasfaserindustrie und vieles mehr.
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