Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 300 #293763792 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 300 prober ist ein Halbleiter-Wafer-Prober zur Sondierung kleiner Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 300 mm. Es ist eine integrierte Testplattform, die kleine Wafer mit einer Vielzahl von Sensoren und Sonden testen kann. Der Prober ist mit einer dual-telezentrischen Optik, einem 4-Position-Bühnenbeladesystem, einem erweiterten Vibrationsisolator, einer Microstepping-Linear-/Drehstufe und einem Hochgeschwindigkeits-Multiplexer ausgestattet. TSK UF 300 prober beinhaltet auch eine Echtzeit-automatisierte Wafer-zu-Fixture-Ausrichteinheit, die eine präzise Probenausrichtung ermöglicht. Der Prober wurde entwickelt, um eine breite Palette von Wafer-zu-Fixture-Tests zu unterstützen. Es bietet eine integrierte Lösung für die optische Ausrichtung und physikalische Sondierung kleiner Wafer. Der Prober ist mit einem optischen Mikroskop und einer weichen Kompensation ausgestattet, die eine Ausrichtung eines Wafers auf wenige Nanometer seines vorgesehenen Standorts ermöglicht. Die automatisierte Ausrichtmaschine kann Sonden schnell und präzise an Wafer-Maps mit hoher Wiederholbarkeit ausrichten und bietet Anwendern eine kostengünstige Lösung, um kleine Wafer präzise zu testen. ACCRETECH UF300 prober verfügt zudem über ein vibrationsbeständiges Design mit einem speziellen Vibrationsmotor und Schwingungsisolator, um eine optimale Leistung zu gewährleisten. Das Tool verwendet eine softwaregesteuerte Isolierung, um sicherzustellen, dass alle während des Tests erzeugten Vibrationen genau isoliert werden. Dadurch wird sichergestellt, dass der Prober kleine Wafer ohne verzerrte Ergebnisse sondieren kann. Der Prober ist zudem mit einem automatischen Frontend-Lademodell ausgestattet, das bis zu vier Wafer gleichzeitig transportieren kann. Dies verbessert die Effizienz und reduziert Ausfallzeiten. Es ist auch mit einem Multiplexer ausgestattet, der es Anwendern ermöglicht, schnell und präzise zwischen Testkonfigurationen zu wechseln. TSK UF300 prober bietet überlegene Leistung und Zuverlässigkeit und ist damit eine hervorragende Lösung für die Prüfung kleiner Wafer. Seine erweiterten Funktionen und Fähigkeiten ermöglichen es Benutzern, kleine Wafer schnell und präzise mit Präzision und Wiederholbarkeit zu testen.