Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 300 #9221039 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 300 ist ein Prober für die Herstellung und Prüfung von Halbleiterscheiben. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Funktionen auszuführen, einschließlich Wafer-Probentests, Fehleranalysen und Datenlogging. TSK UF 300 hat eine Genauigkeit von 10 Nanometern und kann bis zu 8 Wafer gleichzeitig unterstützen. Der Prober hat einen modularen Aufbau, der eine einfache Aufrüstbarkeit sowie die Möglichkeit ermöglicht, den Prober einfach an bestimmte Anwendungen anzupassen. Es ist auch für schnelle Wendezeiten konzipiert, mit seiner Subsekundengeschwindigkeit nach dem Abrufen. Das Probentestsystem von ACCRETECH UF300 ist in der Lage, präzise elektrische Parametermessungen durchzuführen, einschließlich Widerstand, Kapazität, Induktivität und Spannung. Es verfügt über integrierte Selbsttest-Diagnosen, die elektrische Fehler oder Anomalien erkennen können. Es verfügt auch über eine breite Palette von automatisierten Operationen, wie automatische Waferausrichtung, Wafer-Sondierung, Datenprotokollierung, Go/No-Go-Testergebnisse und visuelle Inspektion. Das Fehleranalysesystem am Prober ist in der Lage, eine detaillierte Analyse etwaiger Fehler auf dem Wafer durchzuführen. Detaillierte Bilder des Fehlers werden mit der automatisierten CCD-Kamera erstellt, die dann in der weiteren Analyse verwendet werden kann. Der Prober verfügt zudem über automatisierte Fehleranalysefunktionen mit integrierten Algorithmen zur Erkennung und Charakterisierung verschiedener Fehlertypen. UF 300 verfügt über zahlreiche Datenlogging und Analysefunktionen, die die Erfassung und Analyse großer Datenmengen aus dem Wafer ermöglichen. Diese Daten können dann zur weiteren Analyse gespeichert oder zur Erfassung von Trends oder Mustern verwendet werden. Es verfügt auch über ein integriertes Skriptwerkzeug, das bestimmte Datalogging-Vorgänge automatisieren kann. ACCRETECH UF 300 ist ein zuverlässiger und vielseitiger Prober, der sich für eine Vielzahl von Anwendungen eignet. Der modulare Aufbau und die breite Palette an Funktionen machen es sehr einfach, in verschiedenen Produktions- und Testumgebungen anzupassen und zu verwenden. Seine Fähigkeit, verschiedene elektrische Parameter genau zu messen, automatisierte Wafer-Sondierung und Analyse durchzuführen und große Datenmengen zu behandeln, machen es zu einem idealen Werkzeug in der Halbleiterindustrie.