Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 Omega #9412012 zu verkaufen

ID: 9412012
Weinlese: 2006
Prober 2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 Omega ist ein hochauflösender Prober, der den Anforderungen fortschrittlicher Wafer-Sondierungsanwendungen gerecht wird. Das Gerät kombiniert die Fähigkeit eines speziellen vertikalen Probers mit flexiblen, fortschrittlichen Sondierungsmethoden und einem Scannermodul, um eine Vielzahl von sich entwickelnden Technologieanforderungen zu erfüllen. Das System basiert auf einem modularen Aufbau und kann mit einer Vielzahl von hochauflösenden Sondenkarten wie Vakuum-, berührungslosen und ESD-Sonden konfiguriert werden. Das Gerät verfügt über einen hocheffizienten Kern-Wafer-Prober und verfügt über motorisch angetriebene Bewegung und Autofokus für maximale Vielseitigkeit. Der modulare Aufbau der Maschine ermöglicht die Installation mehrerer Tastkarten, so dass schnell zwischen ihnen umgeschaltet werden kann. Die hochauflösenden Theta/phi-Stufen zeichnen sich durch hohe Präzision und eine hervorragende Ausrichtung der Sonden auf das Gerät aus. Das fortgeschrittene optische Ausrichtwerkzeug sorgt ferner für eine genaue Platzierung der Sonde in das Gerät. Das optische bildgebende Element wurde entwickelt, um Abweichungen zu erkennen und zu korrigieren, um die Geräteausrichtung aufrechtzuerhalten. Der Prober verfügt über ein integriertes Automatisierungsmodell mit zentraler Softwaresteuerung für den gesamten Sondenbetrieb. Es verwendet Standardsoftware und kann problemlos in bestehende Testumgebungen integriert werden. Neben seinen Wafer-Sondierungsfunktionen ist TSK UF 3000 Omega auch mit einer Vielzahl von In-Probe X-Y-Scannermodulen ausgestattet. Diese Module ermöglichen es, eine breite Palette von erweiterten Sondierungsfunktionen auszuführen, einschließlich Einzelplatzsondierung, Sondierung an mehreren Standorten, Parameterzuordnung und thermischer Profilierung. ACCRETECH UF 3000 Omega ist ein zuverlässiger, hochauflösender Wafer-Prober, der leicht in bestehende Testumgebungen integriert werden kann. Es bietet eine flexible, zuverlässige und genaue Lösung für umfassende Wafer-Sondierungsanforderungen.
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