Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #293617616 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 ist eine Prober-Ausrüstung zur Sondierung elektrischer Geräte wie VLSI-Halbleiterbauelemente, Leiterplatten und Komponenten. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Tests wie Logiktests, Leckstromprüfung, kurze Tests, Burn-in-Test, Online-Programmierung und Fehlerdiagnose durchzuführen. Das TSK UF 3000 Probersystem ist mit einer hochauflösenden Seheinheit ausgestattet, die in der Lage ist, die genaue Position des zu prüfenden Geräts (DUT) automatisch zu erkennen und die Sondenspitze mit ihren Pads exakt auszurichten. Es hat eine Testfläche von 380 mm x 600 mm für großflächige Halbleiterbauelemente sowie eine Unterprüffläche von 80 mm x 80 mm für kleinere ICs. ACCRETECH UF3000 Maschine enthält eine leistungsstarke Wert-/Stromquelle, um die für die Prüfung erforderliche Leistung bereitzustellen. Es enthält auch einen leistungsstarken Leckstrommonitor, der eine genaue Prüfung der Leckstromwerte ermöglicht. ACCRETECH UF 3000 ist mit einer sauberen und langlebigen Konstruktion konzipiert, die die bestmögliche Umgebung für Testergebnisse gewährleistet. Für eine zuverlässige und wiederholbare Sondierung bietet das TSK UF3000 Tool eine Reihe fortschrittlicher Sondenausrichtungstechniken. Mit diesen Techniken können Wärmeausdehnung, Bauteilneigung und Bauteilverschiebung ausgeglichen werden. UF3000 verfügt auch über einen PWM-Signalgenerator (High Speed Pulse Width Modulation), der eine schnelle und zuverlässige Prüfung digitaler Logik-ICs ermöglicht. Es enthält auch eine thermische Kompensationsanlage, die hilft, ein genaues Temperaturniveau beizubehalten, um genauere Messungen zu gewährleisten. Das Modell ist zudem mit einer ausgeklügelten Kommunikationsschnittstelle ausgestattet, die Fernverwaltung und -steuerung ermöglicht. Auf diese Weise können Benutzer den Status des Probers überwachen, Daten aufzeichnen und Einstellungen von einem entfernten Standort aus anpassen. Insgesamt ist ACCRETECH/TSK UF3000 prober Equipment ein vielseitiges und zuverlässiges System zur Durchführung mehrerer Testarten an elektrischen Geräten. Seine fortschrittlichen Eigenschaften machen es zu einer idealen Wahl für die Prüfung empfindlicher und komplexer Halbleiterbauelemente und -schaltungen.