Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621713 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein Prober zur elektrischen Prüfung von elektronischen Präzisionskomponenten. Das Gerät wird in der Qualitätssicherung und Produktionsüberwachung eingesetzt. Es verfügt über eine 3D-Mustererkennungsausrüstung, die Komponentenpositionen und Ausrichtung erkennen kann und Mikroknappheit, Fehlstellungen von Komponenten und andere Anomalien in feinen elektromechanischen Geräten erkennen kann. Der Prober ist in der Lage, mit hoher Geschwindigkeit zu arbeiten, mit Durchsätzen von bis zu 600 Wafern pro Stunde. Es ist mit automatisierten Wafer-Handhabungs- und Wafer-Ladesystemen ausgestattet, die schnelle Produktzykluszeiten und einen erhöhten Durchsatz ermöglichen. Das Gerät besteht aus einem stationären Sockel und einem x/y-Achsensystem, das ein breites Bewegungsspektrum ermöglicht. Der Prober kann Komponenten innerhalb eines 40mm-Bereichs genau messen und ist für die Reichweite und Genauigkeit der Messung einstellbar. Darüber hinaus ist sie in der Lage, Teile mit einer Auflösung von bis zu 14 Nanometer (nm) manuell oder automatisiert zu prüfen und zu messen. Der Prober ist mit einer optischen Messeinheit AccraGaugeTM ausgestattet, die das Vorhandensein oder Fehlen von Mikroknappheit erkennen kann, und mit AccraVisionTM-Software, die eine verbesserte Effizienz und Genauigkeit bei der Prüfung ermöglicht. Der Prober ist auch mit einer Vision-Maschine ausgestattet, die eine Hochgeschwindigkeitskamera, Oberflächenbeleuchtung und einen umfangreichen Satz von Parametereinstellungen umfasst. Die AccraVision-Software ermöglicht es dem Bediener, bestimmte Funktionsgrößen, Erkennungsorte und Toleranzen anzugeben, so dass das Gerät alle Anomalien in den getesteten Komponenten genau erkennen kann. Das AccraGauge-Tool verwendet eine 3D-Vektorzuordnung, um die 3D-Abstände zwischen KEs auf den Komponenten genau zu messen und eine Karte der Komponentenfläche zu erstellen. Der Prober ist auf ein hohes Maß an Präzisionskomponenten ausgelegt und ist in drei Formfaktoren erhältlich: 1-up Low-Profile, 2-up Mid-Height oder 3-up High-Profile. Es bietet auch einen eingebauten Wafer-Lift-Prozess, der es dem Bediener ermöglicht, auf Ecken des Wafers und problematische Bereiche in Wafern zuzugreifen, um auf empfindliche oder obskure Komponenten zuzugreifen. Die Ausgabe dieses Probers ist sowohl in Echtzeit online als auch offline zur weiteren Analyse und Überprüfung verfügbar. Der Prober ist für die Prüfung und elektrische Messung von präzisen elektronischen Bauteilen konzipiert und ist ein ideales Werkzeug zur Qualitätssicherung und Produktionsüberwachung von Bauteilen und Baugruppen. Zusätzlich zu seinen Funktionen und Erkennungsfunktionen bietet es Anwendern eine robuste und zuverlässige Plattform zum Testen von Komponenten mit hoher Durchsatzrate und integrierter automatisierter Wafer-Handhabung und Waferbelastung.