Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621718 zu verkaufen

Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 3000
ID: 293621718
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2006
Wafer prober, 12" Process: V5400 Hot air Load port ATT A300T Air cooled chuck X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C) X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm Z Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm Z Axis control accuracy: ±2 µm Stage durability: 200 kgf Does not include Hard Disk Drive (HDD) Power supply: 120 AC, Single phase 2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein Prober, der sowohl kontaktlose als auch kontaktlose Technologie für effektive messtechnische Lösungen verwendet. Es prüft sowohl fortgeschrittene als auch ältere ICs und Gerätepakete auf eine breite Palette von Parametern, wie elektrische Leistung und Defekte. TSK UF 3000 bietet Benutzern maximale Genauigkeit und Zuverlässigkeit durch fortschrittliche optische Messtechnik und hat die Fähigkeit, Proben verschiedener Dicken und Formen zu überprüfen, was es ideal für erweiterte Waferakzeptanz, Prozesskontrolle und Fehleranalyse macht. ACCRETECH UF3000 verwendet ein Wafer-Ausrichtungssystem, das entworfen ist, um die Stempelposition und den Neigungswinkel der Probe genau zu finden und zu korrigieren, um bestmögliche Testergebnisse zu gewährleisten. Der Prober nutzt eine Reihe von kontakt- und berührungslosen Technologien, einschließlich optischer, elektrischer und Vakuumsonde. Die optischen Sonden verwenden zerstörungsfreie UV-Laser zur Mikroskopiemessung, die geometrische Parameter wie Konturen, Stufen, Höhe und Lochlage charakterisieren. Die elektrischen Sonden verwenden automatisierte Proberwerkzeuge zur Prüfung elektrischer Parameter von Kontaktpads. ACCRETECH UF 3000 verfügt über einen automatisierten Waferlader und Entlader für schnelles Be- und Entladen von Proben. Der Prober kommt mit einer benutzerfreundlichen GUI, die die Navigation einfacher und schneller machen soll. Ein Array von Variablen und programmierbaren Testeinstellungen kann über die GUI gesteuert werden und bietet eine erhöhte Flexibilität für das gesamte Setup. Der Prober verfügt auch über eine integrierte Inspektionsbibliothek, um Testprogramme zu speichern und einen einfachen Zugriff zu ermöglichen. ACCRETECH/TSK UF3000 ist in der Lage, mehrere Proben gleichzeitig zu multitasking und zu testen, wodurch schnelle Ergebnisse mit minimalen Fehlern generiert werden. Die Sonden werden typischerweise mit Druckluft beaufschlagt, um eine minimale Kontaktkraft zu gewährleisten und die Zuverlässigkeit zu verbessern. Der Prober kann auch in einer Vielzahl von Umgebungen verwendet werden, einschließlich Reinraum, Labor oder Produktionslinie. Die Genauigkeit, Geschwindigkeit und Zuverlässigkeit von TSK UF3000 macht es zur perfekten Lösung für Waferakzeptanz und Düsenertragsverbesserung.
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