Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621719 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein automatisierter Prober zur Waferinspektion und elektrischen Charakterisierung von Halbleiterbauelementen. Dieses Werkzeug ist hochempfindlich und kann auch bei hohen Temperaturen kleine Schwankungen erkennen. Mit Hilfe einer fortschrittlichen Multi-Sonden-Bewegungssteuerung ermöglicht es dem Benutzer, verschiedene Bereiche eines Geräts bei variablen Temperaturen schnell und genau abzubilden. TSK UF 3000 unterstützt bis zu 16 Sonden, so dass jede Sonde unabhängige Geräte gleichzeitig testen kann. Das gesamte System ist nahtlos in die TSK WaferScan-Software integriert, so dass Benutzer die gesammelten Daten schnell messen und analysieren können. ACCRETECH UF3000 bietet eine Auswahl verschiedener Temperaturbereiche, die den Prozess beschleunigen. Es enthält auch eine Reihe von verschiedenen Tastköpfen, so dass der Benutzer den Kontakt mit dem Gerät in verschiedenen Winkeln und Positionen. Der Temperaturbereich kann präzise gesteuert werden und extreme Temperaturen von -50 ° C bis + 400 ° C erreichen. Dieses Werkzeug ist auch entworfen, um Signalenergie zu injizieren und die Schaltungsantwort innerhalb von Nanosekunden zur dynamischen Gerätekennzeichnung zu messen. TSK UF3000 bietet beispiellose genaue Daten und Leistung mit unterstützender Software und Hochgeschwindigkeits-Signalverarbeitung. Es verfügt über umfangreiche Managementfunktionen zur Verwaltung der Testprogramme, einschließlich Signal-Rausch-Verhältnisse, Begrenzer und einstellbaren Dynamikbereich. Es hat auch eine schnell austauschbare Adapterplatte, die einen schnellen und mühelosen Wechsel der Testkonfiguration ermöglicht. ACCRETECH UF 3000 bietet hochpräzise Steuerung der Sondenbewegung und Z-Höhenkontrolle für ausgezeichnete Genauigkeit. Dieses Tool ist sowohl für das Wafer-Level-Format als auch für die Wafer-Level-Adressierung konzipiert. Es bietet leistungsstarke Analyse- und Aufzeichnungsfunktionen mit einem automatischen Datenerfassungssystem. Für reproduzierbare Ergebnisse mit hoher Genauigkeit ist UF3000 das ideale Werkzeug. Das robuste Design und die modernste Technologie machen es zu einer idealen Lösung für eine strenge Inspektion und elektrische Charakterisierung dynamischer Halbleiterteile.