Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #293770298 zu verkaufen
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ID: 293770298
Wafergröße: 8"-12"
Weinlese: 2007
Prober, 8"-12"
Chuck type: Nickel
Ambient hot temperature
OCR Type: E3 camera
Touch sensor
Clean pad: 150x150 mm
Chuck blower
No APC
Touch screen panel
Single loader
GPIB
CPU Type:
WG1004-7-300
MIC1040-14-1-A
Power supply: AC 220 V, Single phase
2007 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 prober ist ein anspruchsvolles Gerät für Halbleiterherstellung und Testanwendungen. Als entscheidendes Werkzeug in der Halbleiterindustrie wird der Prober zum Testen der elektrischen und funktionalen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen wie integrierten Schaltungen (ICs), Speicherchips und Sensoren verwendet, bevor sie zu elektronischen Produkten verpackt und zusammengebaut werden. Im Kern besteht TSK UF 3000 Prober aus einem präzisen mechanischen System mit fortschrittlichen Positionierungsmöglichkeiten, um eine genaue und wiederholbare Prüfung von Halbleiterbauelementen zu gewährleisten. Der Prober weist einen motorisierten Sondenmechanismus auf, der einen präzisen Kontakt zwischen den Sondenspitzen und den Bondpads auf dem zu prüfenden Halbleiterbauelement ermöglicht. Dies gewährleistet zuverlässige und konsistente elektrische Verbindungen für genaue Testergebnisse. Eines der wichtigsten Merkmale von ACCRETECH UF3000 prober ist seine erweiterten Sondierungsfunktionen, die die Möglichkeit umfassen, mehrere Sonden gleichzeitig zu behandeln, um mehrere Punkte auf dem Gerät parallel zu testen. Diese Hochdurchsatzfähigkeit ist entscheidend für die Verbesserung der Testeffizienz und die Verkürzung der gesamten Testzeit, wodurch der Prober für Serienumgebungen mit hohem Produktionsvolumen geeignet ist. Zusätzlich zu seinen Sondierungsfunktionen ist ACCRETECH/TSK UF3000 prober mit einer Reihe von Ausrichtungs- und Positionierungsfunktionen ausgestattet, um präzise und genaue Tests zu gewährleisten. Der Prober verwendet fortgeschrittene optische Ausrichtungssysteme, um die Sonden mit den Bondpads auf dem Halbleiterbauelement mit Mikron-Genauigkeit auszurichten. Dadurch kann der Prober enge Kontakttoleranzen erzielen und das Risiko einer Beschädigung des Gerätes während der Prüfung minimieren. Darüber hinaus ist der Prober ACCRETECH UF 3000 vielseitig konzipiert und verfügt über ein modulares Design, das eine einfache Anpassung und Integration mit anderen Testgeräten und Softwaresystemen ermöglicht. Der Prober ist mit benutzerfreundlichen Schnittstellen und Softwaresteuerungen ausgestattet, die es dem Bediener ermöglichen, Testsequenzen für eine Vielzahl von Halbleiterbauelementen und Testanforderungen einfach einzurichten, zu programmieren und auszuführen. In Bezug auf Spezifikationen bietet UF3000 prober eine Reihe von Sondierungskonfigurationen, einschließlich Einzelpunkt- und Mehrpunkt-Sondierungsoptionen sowie Optionen für vertikale und horizontale Sondierungsorientierungen. Der Prober ist in der Lage, eine breite Palette von Halbleiterbauelementen zu handhaben, von kleinen ICs bis zu großen Multi-Chip-Modulen, so dass es ein vielseitiges Werkzeug für die Prüfung verschiedener Arten von Geräten in der Halbleiterindustrie. Insgesamt ist TSK UF3000 prober eine hochmoderne Testlösung, die hohe Präzision, Zuverlässigkeit und Effizienz für Halbleiterfertigungs- und Testanwendungen bietet. Mit seinen fortschrittlichen Sondierungsfunktionen, präzisen Ausrichtungssystemen und benutzerfreundlichen Schnittstellen ist der Prober gut für Serienumgebungen geeignet, in denen Geschwindigkeit, Genauigkeit und Zuverlässigkeit unerlässlich sind, um die Qualität von Halbleiterbauelementen sicherzustellen.
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