Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9192665 zu verkaufen

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Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 3000
ID: 9192665
Weinlese: 2005
Prober Docking type: TERADYNE J750EX Nickel chuck Hot temperature controller Left loader OCR Camera APC GP-IB Interface Needle cleaning unit Auto needle alignment Touch screen monitor Currently installed 2005 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein Prober für Halbleiterfertigungstest und -analyse. Es ist ein leistungsstarker, zerstörungsfreier, automatisierter Prober, der kritische Funktionen für eine breite Palette von Prüf- und Inspektionsbedürfnissen bietet. TSK UF 3000 verfügt über eine Hochgeschwindigkeitsstufe und eine erweiterte Schaltung für genaue Wafer-Sondierung. Es ist in der Lage, bis zu 8 Wafer gleichzeitig zu handhaben und bietet einen hohen Durchsatz und Flexibilität. Der Prober ist modular aufgebaut und kann für bestimmte Anwendungen konfiguriert werden. ACCRETECH UF3000 bietet zwei Arten von automatisierten und austauschbaren Messblöcken, die voneinander unabhängig sind. Dadurch kann der Prober eine Vielzahl von Testprodukten wie Plattenprodukte, Waferkanten und Sondenkarten messen oder eine Gerätecharakterisierung durchführen. Das einzigartige Design UF3000 Probers ermöglicht es Benutzern, die Position des Waferfutters ohne Änderung des Testblocks einzustellen. Darüber hinaus verfügt der Prober über vier präzise motorisierte Stufen, die in einer X-, Y-, θ und Z-Achskonfiguration organisiert sind, um eine hohe Genauigkeit und Effizienz zu gewährleisten. Erweiterte Software- und Datenerfassungsfunktionen sind in ACCRETECH UF 3000 prober enthalten. Die Software enthält einen integrierten Test-Profil-Editor, der die Testeinrichtung mit echten grafischen Benutzeroberflächen vereinfachen soll. Integrierte Datenerfassungssysteme bieten eine Echtzeitanalyse der Testdaten, die eine schnelle Analyse der Testergebnisse ermöglicht. Der Prober verfügt auch über ein eingebautes System für Wafer Platzierung (Ausrichtung) Kalibrierung und Handhabung. UF 3000 Prober ist mit Sicherheit im Auge entworfen und kommt mit an Bord Sicherheitsfunktionen wie Interlock-Schalter, Wafer Zählsensor und Lift-Sensor. Der Prober umfasst auch redundante Vakuumsensoren sowie einen unabhängigen Impulsgenerator, um eine zuverlässige Wafer-Handhabung zu gewährleisten. Die Konstruktion des Probers ist auch entworfen, um anspruchsvolle Produktionsumgebungen mit seiner Edelstahlkonstruktion und robuster Konstruktion zu unterstützen. Insgesamt ist TSK UF3000 prober ein leistungsstarker und vielseitiger Prober, der sich für eine Vielzahl von Anwendungen im Halbleiter-Frontend-Fertigungstest und -analyse eignet. Die fortschrittlichen Funktionen und der modulare Aufbau machen es ideal für effiziente und zuverlässige Gerätetests.
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