Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9192809 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 prober ist ein spezialisiertes, hochpräzises Produkt, das zur Prüfung der elektrischen Eigenschaften kleiner mikroelektronischer Bauteile mit komplizierten Gehäusedesigns verwendet wird. TSK UF 3000 bietet eine breite Palette von Funktionen und Funktionen, einschließlich hochauflösender Sondensignalmessung, einer automatischen Ausrichtungsfunktion und einer Vielzahl von Regelmodi. Der Tastkopf von ACCRETECH UF3000 ist die Kernkomponente des Systems und bietet höchste Präzision und Genauigkeit bei einer Positionsauflösung von 0,5 µm und 0,2 µm Genauigkeit. Der Tastkopf verwendet ein XYZ-Koordinatensystem und ein sehr flexibles Design mit Vier-Achsen-Pneumatik ermöglicht die Prüfung in jedem Winkel und jeder Höhe. Es ermöglicht auch eine breite Palette von Sonde Topping Formen und Größen für den Zugang zu jedem mikroelektronischen Gerät. Die Sensorsignalmessung von ACCRETECH/TSK UF3000 bietet Testoptionen, die Spannung, Strom, Kontaktwiderstand und Kapazität umfassen. Die Signalpegel werden mit einem 32-Bit-A/D-Wandler mit einer Auflösung von 0,25 μ V genau gemessen. Mit der Echtzeit-Datenverarbeitungsfähigkeit von UF3000 können zeitbasierte Testparameter genau gemessen werden. Neben den Sensorsignalmessmerkmalen verfügt TSK UF3000 über eine automatische Ausrichtungsfunktion. Diese automatisierte Ausrichtung kompensiert fehlausrichtungsbedingte Verzerrungen der Sondensignale der Testeinrichtung. Die automatische Ausrichtung ist einstellbar, um verschiedene Prüfparameter ohne manuelle Einstellung oder visuelle Bestätigung zu erfüllen. UF 3000 verfügt außerdem über zwei manuelle und automatische Steuerungsmodi, mit denen Benutzer eine Vielzahl von Verfahren und wiederholbare Aufgaben ausführen können. Insgesamt nutzt ACCRETECH UF 3000 prober seine Palette an erweiterten Funktionen und Funktionen, um hochpräzise Tests komplizierter mikroelektronischer Komponenten anzubieten. ACCRETECH/TSK UF 3000 ist eine ausgezeichnete Wahl für die genaue und präzise Prüfung komplexer mikroelektronischer Komponenten mit seinem breiten Spektrum an Sonden-Topping-Formen und -Größen, Signalmessfunktionen, automatischen Ausrichtungsfunktionen und wählbaren Regelmodi.