Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9195736 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein Prober, der in Wafer-Sondierungsanwendungen verwendet wird. Es ist ein modernes Gerät, das speziell für die dynamische und statische elektrische Prüfung von Halbleiter- und optoelektronischen integrierten Schaltungen entwickelt wurde. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Gerätetypen wie CMOS, BiMOS und Bipolartransistoren sowie Speicherbausteine und logische ICs zu testen. Das System besteht aus einem Hauptrahmen, einem Prober und einer Reihe von Testköpfen. Der Hauptrahmen ist eine vertikal ausgerichtete Einrichtung, die aus einer Proberbasis, einer motorisierten Plattform und einer Reihe von Sensoren zur Steuerung der Bewegung der Einheit besteht. Der Prober ist das die Sonden aufnehmende Bauelement, das Kontakt- und Spannungsmessungen durchführt. Die Testköpfe sind erweiterbare Module, die es dem Benutzer ermöglichen, die Maschine für eine bestimmte Gerätekonfiguration zu konfigurieren. Das Tool ist mit modularen Messköpfen und einer Vielzahl von Sonden ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglichen, das Asset an spezifische Testanforderungen anzupassen. TSK UF 3000 bietet hervorragende Auflösung und Geschwindigkeit. Seine Stroboskopgenauigkeit ist mit einer Genauigkeit von 1 Mikrosekunde und einer Wiederholbarkeit von +/- 0,3 Mikrosekunden unübertroffen. Darüber hinaus bietet das Modell eine maximale Abtastgeschwindigkeit von bis zu 50 kHz und bietet Flexibilität und Geschwindigkeit bei Beibehaltung überlegener Abtastgenauigkeit. In Bezug auf Sicherheit und Umweltschutz ist dieser Prober unter Berücksichtigung der Sicherheit konzipiert. Es verfügt über eingebaute Sicherheitsfunktionen wie eine Niederdruck-Sicherheitsausrüstung und Zonenschutz-Funktionen, um sicherzustellen, dass das System so sicher wie möglich verwendet wird. Darüber hinaus trägt der modulare Aufbau dazu bei, Vibrationen zu reduzieren, die Zuverlässigkeit zu verbessern und den Energieverbrauch zu reduzieren. ACCRETECH UF3000 ist eine ideale Lösung für die Wafer-Sondierung. Es bietet Hochgeschwindigkeitsauflösung, überlegene Genauigkeit und Sicherheitsfunktionen, während sein modulares Design eine effiziente Anpassung seiner Messköpfe ermöglicht. Die Skalierbarkeit des Geräts stellt sicher, dass es einfach für zukünftige Gerätetests angepasst werden kann, wenn Technologien voranschreiten.