Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9206780 zu verkaufen

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Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 3000
ID: 9206780
Probers, 12" Accuracy: Within 4μm Stage positioning accuracy: 2μm / φ300mm Low noise chuck: 25~150℃ Options: Cleaning unit PC APC 2005 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein hochpräziser, kontaktarmer Hochgeschwindigkeitsprober, der für den Einsatz in Halbleiter- und anderen Schaltungstests entwickelt wurde. Es kombiniert präzise Bewegungs-, Kontaktsonden und Hochgeschwindigkeits-, Akquisitions- und Signalanalysefunktionen, um eine umfassende Lösung für die Prüfung der Schaltungsleistung zu bieten. TSK UF 3000 bietet eine Reihe von Funktionen, die auf Halbleitertestanwendungen zugeschnitten sind. Sein speziell entwickelter Scankopf kann schnell und präzise in X-, Y- und Z-Richtung mit bis zu 12.000 Zyklen pro Sekunde bewegt werden. Dies bietet eine schnelle und genaue Methode, um große Schaltungen zu testen, ohne dass jeder einzelne Chip physisch geprüft werden muss. Darüber hinaus verfügt der Abtastkopf über eine geringe Kontaktkraft, die Übersprechen und Beschädigung fragiler Strukturen minimiert. ACCRETECH UF3000 verfügt auch über integrierte Signalanalysefunktionen, mit denen die Sonde Signale auf Feature-by-Feature-Basis analysieren kann. Dadurch entfällt die manuelle Aufzeichnung und Analyse von Signaldaten. Die Analyseergebnisse können dann verwendet werden, um die Bewegungen des Probers automatisch anzupassen, um die Prüfgenauigkeit zu verbessern. ACCRETECH UF 3000 ist auch in der Lage, mit einer Vielzahl von verschiedenen Sondentypen zu arbeiten, von Einkontaktsonden bis zu Matrixsonden mit bis zu 8 Elektroden. Dies bietet Flexibilität für Kunden, die unterschiedliche Anforderungen an ihre Halbleiterprüfung haben. Insgesamt ist ACCRETECH/TSK UF3000 ein fortschrittlicher Prober, der für Hochleistungstests von Halbleiterschaltungen entwickelt wurde. Es verfügt über Hochgeschwindigkeitsbewegungen, kontaktierarme Sonden und integrierte Signalanalysefunktionen, die es zu einem leistungsstarken und umfassenden Werkzeug für jede Halbleiterprüfanwendung machen.
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