Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9254154 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein Prober für hochgenaue Messtechnik und Prozesssteuerung in der Hochleistungs-Halbleiterherstellung. Es ist in der Lage, den Sondenprozess zu automatisieren und genaue und zuverlässige Messungen bereitzustellen. TSK UF 3000 verwendet eine vertikale Abtastsonde, die Bilder von Halbleiterchips erzeugt. Mit einzelnen Kontaktsonden, um mehrere Stifte in einem einzigen Zug zu testen, kann ACCRETECH UF3000 schnell einen konstanten Zustand der Genauigkeit erreichen und beibehalten. ACCRETECH UF 3000 verfügt über eine Reihe fortschrittlicher optischer und mechanischer Subsysteme. Das 4-polige Scanmodul wurde entwickelt, um die Genauigkeit in Testmustern zu maximieren. Es verfügt über ein einstellbares optisches System, das sich auf das ausgewählte Testpad mit einer Strahlbreite von ca. 1,5 μ m fokussiert. Die Optik kann sowohl Längs- als auch Höhendaten auslesen, was eine genaue Darstellung des Chips ermöglicht. Das Gerät verwendet auch einen automatisierten Probenhalter, der sich für unterschiedliche Chipgröße und seitlichen Probenbereich einstellt. ACCRETECH/TSK UF3000 ist in der Lage, eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit während des Sondierungsprozesses zu schaffen. Seine Wiederholbarkeit von 0,50 μ m ermöglicht maximale Prozesskontrolle und wiederholbare Ergebnisse. Es verfügt auch über eine Multi-Pass-Scan-Fähigkeit und eine vierfache Vergrößerung, die eine höhere Geschwindigkeit und Genauigkeit der Operationen ermöglicht. TSK UF3000 umfasst automatisierte Software zur Testprozesssteuerung sowie ein integriertes Modul für statistische Exzellenz. Dies unterstützt die Optimierung des Sondierungsprozesses bei gleichzeitiger Echtzeit-Prozesssteuerung. UF3000 umfasst auch ein automatisiertes Kalibriersystem und eine intelligente Sondierungsstrategiesoftware, die schnellere, genauere Ergebnisse mit weniger Durchläufen ermöglicht. UF 3000 ist sehr anpassungsfähig und kann für eine Vielzahl von Anwendungen und Chipkonfigurationen verwendet werden. Sein intuitives Design macht es einfach einzurichten und zu bedienen. Darüber hinaus verfügt er über einen selbstjustierenden Tastkopf, der sicherstellt, dass die Probe immer in vollem Kontakt mit der Sonde steht. Der prober wird entworfen, um Produktivität zu maximieren und gekostet durch die Versorgung einer robusten Lösung des Hochleistungshalbleiterschauprozesses abzunehmen.