Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9256624 zu verkaufen
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ID: 9256624
Weinlese: 2005
Wafer prober
Hot and cold
APC
No chuck
Does not include:
Chiller
End effectors
OCR
Pre-aligner
Chuck
Temperature controller
Up/down cylinder / Clean block
2005 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein automatisierter Wafer-Prober für Wafer-Sondierungs- und Produktionstest-Entwicklungsanwendungen. Dieser Wafer Prober eignet sich für kleine und mittlere Serienstandorte und kann 200 mm und 150 mm Substrate handhaben. TSK UF 3000 verfügt über einen einzigartigen Auto-Drill-Tastkopf, der überlegene Wiederholbarkeit und Bedienbarkeit bietet und es Anwendern ermöglicht, ihre Sonden und Sondenkarten beim Kontakt mit einem Wafer schnell zu identifizieren. Dieser Wafer-Prober hat einen hohen Durchsatz und bietet einen großen Testbereich von Up/Down-Kraft, Vcc/GND, 2/4/8 Elektroden und anderen elektrischen Tests. Es unterstützt auch Hochstromtests mit einem Ausgangsstrombereich von bis zu 100A. ACCRETECH UF3000 unterstützt bis zu 32 Spannfutter, die in beliebiger Kombination mit hoher Flexibilität platziert werden können. Der Prober kommt mit einem Hochgeschwindigkeits-Linearantrieb und ist in der Lage, eine maximale Geschwindigkeit von 1400mm/sec bietet schnellere Sondierungszeit. Dieser Wafer-Prober hat eine integrierte Tischstruktur, die zur Verbesserung der Kopfstabilität ausgelegt ist. Darüber hinaus verfügt es über ein großes Messfenster, das es dem Anwender ermöglicht, die Platzierung von Wafern auf einer kleineren Fläche zu optimieren. ACCRETECH/TSK UF3000 verfügt auch über erweiterte Automatisierungsfunktionen wie Auto-Processing, SEMI-S2-konforme Benutzeroberfläche und Remote-Management-Unterstützung. ACCRETECH UF 3000 verfügt über eine hohe technische Genauigkeit bei einer Gesamtpositionierungsauflösung von bis zu 4 μ m und einer Wiederholgenauigkeit von 1 μ m. Die integrierte Datenerfassungsfähigkeit ermöglicht es Benutzern, Wafer-Pegel-Signale zu erfassen, während der Kontaktwiderstand oder Strom gemessen wird. Dieser Wafer-Prober ist hocheffizient und verwendet eine Reihe fortschrittlicher Technologien wie visuelles Feedback, variable Abtastrate und optimierte Algorithmen, um die Testzeit des Geräts zu reduzieren. Darüber hinaus ist der Wafer-Prober in das TSK Smart Control System (oder SCS) integriert, mit dem Testingenieure das System von einem Punkt aus steuern können. TSK UF3000 ist ein zuverlässiger und langlebiger Wafer-Prober, der überlegene Leistung und Genauigkeit liefert. Es eignet sich ideal für Großserientests und Produktionsstätten und kann große Wafer sowie größere Testprozesse abwickeln. Der Hochgeschwindigkeits-Linearantrieb und seine erweiterten Automatisierungsfunktionen machen diesen Wafer-Prober zu einer wertvollen Ergänzung zu jeder Wafer-Sondierungs- und Fertigungstest-Entwicklungsstation.
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