Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9268055 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein hochpräziser Prober, der von TSK Inc. entwickelt und hergestellt wurde, um erweiterte Halbleiterbauelemente zu sondieren und zu debuggen. TSK UF 3000 verwendet ein einzigartiges Design, um feine Tonhöhensondierung zu ermöglichen und ist in der Lage, jede hochdichte Sondenkarte und Löt- oder Die-Bonding-Technologien zu unterstützen, die in der Halbleiterbauelement-Sondierung und Debugging verwendet werden. Die maximale Sondiergenauigkeit des Probers beträgt fünf Mikrometer, was es für fortgeschrittene Halbleitergerätesondierung und Debugging extrem präzise macht. Der Tastkopf ist aus hochpräzisen Materialien gefertigt und hat die Fähigkeit, seine Höhe innerhalb von 0,2 mm Genauigkeit automatisch zu skalieren und auszurichten. Der Tastkopf nutzt auch ein vollständig geschlossenes Design, das Umweltverschmutzungen beseitigt und einen sauberen, staubfreien Arbeitsbereich bietet. Darüber hinaus verfügt der Tastkopf über Hochgeschwindigkeits-Scan- und Sondierungsfunktionen mit einem vollständigen Scanabstandsbereich von 0,25 mm und einer maximalen Genauigkeit von 0,01 mm. ACCRETECH UF3000 verfügt auch über eine Vielzahl von integrierten Tools, einschließlich einer intuitiven Benutzeroberfläche für Analyse, Debugging und Reporting, hochauflösende Videomikroskopie, Multi-Point-Sondierung und Auto-Site-Erkennung für effizientes Debugging. ACCRETECH UF 3000 hat eine Vielzahl von Optionen für die Integration mit anderen Test- und Diagnosegeräten, einschließlich einer USB 3.0-Datenschnittstelle, Echtzeit-Netzwerkkommunikation und programmierbaren Anhängen für die kundenspezifische Gerätekonfiguration. Abschließend ist UF 3000 prober eine hochpräzise und vielseitige Maschine, die für fortgeschrittene Halbleitergerätesondierung und Debugging verwendet wird und eine Vielzahl integrierter Werkzeuge und Optionen für die Integration mit anderen Testgeräten bietet. Die maximale Sondiergenauigkeit von fünf Mikrometern und die intuitive Benutzeroberfläche machen UF3000 zum idealen System für jede Halbleitergerätesondierung und Debugging-Anwendung.