Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9268061 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein Hochleistungsprober für die Wafer-Prüfung und Gerätemessung. Es verfügt über ein 300mm oder 450mm Prober-Spannfutter mit einer Vakuum-Niederhalter-Ausrüstung, um eine sichere und zuverlässige Wafer-Montage zu gewährleisten. TSK UF 3000 ist auch für automatisierte Wafer-Sondierung konzipiert und bietet eine optionale Luftlagerstufe für genaue und wiederholbare Wafer-Position während des gesamten Sondierungsvorgangs. Darüber hinaus verfügt der Prober über ein automatisiertes Wafer Inspection System (AWIS), um detaillierte Wafer-Pegelmessungen bereitzustellen. Das AWIS verfügt über eine zweidimensionale Seheinheit, die bis zu 64 Spaltpunkte entlang eines Wafers erkennen und messen kann. Es wird auch mit einer Hochleistungsdatenerfassungsmaschine konfiguriert, die eine breite Reihe von elektrischen, thermischen, akustischen und anderen Tests unterstützt. ACCRETECH UF3000 hat auch eine Reihe von Sondierungslösungen für Hochfrequenz-HF-Sondierung, thermische Wafer-Sondierung und digitale Sondierung. Die fortschrittliche Digital Probe Station (DPS) ermöglicht schnelle, genaue parametrische und HF-Tests. Das DPS ist mit einer breiten Palette von Stützvorrichtungen und Fähigkeit zur Handhabung von bis zu 10 Kontakten ausgestattet. Es verfügt außerdem über ein eingebautes optisches Mikroskop zur Waferausrichtung und ein Hochfrequenzmodul zur HF-Sondierung. UF 3000 verfügt auch über einen Vollfunktions-Touchscreen-Controller, mit dem Benutzer schnell auf Wafer-Testprogramme und -Daten zugreifen können. Der Controller ermöglicht es Benutzern auch, Daten aus dem Prober- oder Hostcomputer auszuwählen und anzuzeigen und verfügt über integrierte Gerätesätze für die Messung von Wafer-Sonden. Der Controller speichert auch Tuningparameter, Wafer-Testprogrammeinstellungen und gespeicherte Daten im Bordspeicher. ACCRETECH/TSK UF3000 ist ein hochgenauer und zuverlässiger Prober, der sich ideal für produktive Wafertests und Gerätemessanwendungen eignet. Es ist für effiziente Wafer-Sondierung, genaue Inspektion und detaillierte Messungen konzipiert, so dass es eine ausgezeichnete Wahl für Halbleiterbauelementprüfung und Produktionsprozesssteuerung ist.