Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9268173 zu verkaufen

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Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 3000
ID: 9268173
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2005
Prober, 12" Single side loader Overall accuracy: Within 4 μm Stage positioning accuracy: 2 μm / φ300 mm Z-Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm Z-Axis control accuracy: ±2 μm Stage durability: 200 kgf Chuck type: Hot chuck Low noise, 12" Temperature range: +40°C to +150°C MHF4000 Hinge and Floppy Disk Drive (FDD) Does not include: Chiller Hard Disk Drive (HDD) 2005 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 Prober ist ein eigenständiger, hybrider Wafer Prober, der für die Prüfung von Halbleiterbauelementen bis zu einer Größe von 6 Zoll ausgelegt ist. Es verfügt über ein eingebautes Messgerät und eine 3-achsige, hochauflösende Stufe mit einer einstellbaren Positionsauflösung von 0,5 µm. Dieser Prober ist in der Lage, Hochgeschwindigkeitstests von elektronischen Komponenten in einer Reihe von Umgebungen sowie Wiederholbarkeit und Genauigkeit. Es bietet auch automatische Kalibrierung, automatische Ausrichtung und automatische Messfunktionen für genaue Wiederholbarkeit der Prüfparameter. Kern dieses Probers ist sein robustes, integriertes digitales Steuerungssystem mit integrierter, motorgetriebener 3-Achsen-Bühnenbewegung, mit dem TSK UF 3000 Prober die Produktivität im Labor maximieren kann. Es hat auch die Flexibilität, entweder manuell oder von einem Remote-PC gesteuert werden, bietet eine einfach zu bedienende Schnittstelle für jeden Testprozess. Der Prober unterstützt bis zu vier Messsysteme zur Unterstützung mehrerer Testtypen, wodurch die Notwendigkeit mehrerer Prober mit dedizierten Tests entfällt. ACCRETECH UF3000 Prober bietet bis zu 300 mm Waferweg bei einer Geschwindigkeit von bis zu 200 mm/s und liefert sowohl Hochgeschwindigkeitsprüfleistungen als auch präzise Genauigkeit. Die Wafer können in die Vakuumeinheit des Probers eingeschraubt werden, was eine versiegelte Prüfung und präzise Waferausrichtung ermöglicht und gleichzeitig mögliche Gasaustritte und Verschmutzungen eliminiert. Seine einzigartige Servosteuerungsmaschine ermöglicht es UF 3000 Prober auch, den Wafer genau im aktiven Messbereich zu positionieren, um die genauesten Ergebnisse zu erzielen. UF3000 Prober verfügt auch über ein modernes, integriertes, hochauflösendes Bildgebungswerkzeug, um Fehler und Defekte auf der Oberfläche des Wafers zu identifizieren. Es ist anpassbar, um eine breite Palette von Sonden und Vorrichtungen für verschiedene Arten von Tests unterzubringen, und kann in Kombination mit dem integrierten Auto Alignment Asset verwendet werden. Dies ermöglicht die Verwendung von TSK UF3000 Prober für eine Vielzahl von Testanwendungen wie Submikron-Wafer-Sondierung, LED-Düsensondierung, eine Vielzahl von elektrischen Tests, Nanofabrikation und Zerstäubung. ACCRETECH/TSK UF3000 Prober ist ein unschätzbares Werkzeug für eine Vielzahl von Halbleiterherstellungs- und Testumgebungen. Seine robuste Konstruktion und Integration in die motorgetriebene 3-Achsen-Stufenbewegung bieten eine zuverlässige Lösung für genaue, wiederholbare Tests. Das einzigartige integrierte Bildverarbeitungsmodell verbessert die Benutzerfreundlichkeit zur Fehlererkennung und -verifizierung. Mit seiner erheblichen Genauigkeit und Wiederholgenauigkeit kann ACCRETECH UF 3000 Prober präzise, optimierte Messungen innerhalb der Laboreinstellungen und im Produktionsbereich liefern.
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