Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9308941 zu verkaufen

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Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 3000
ID: 9308941
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2006
Wafer prober, 12" Single loadport KEYENCE BL-601HAC1 Cassette ID Reader Chuck size, 12" Chuck material: NICKEL Coating ARTS-LC12 Low temp chuck Chuck temperature range: -40~150℃ Temperature unified chuck External chiller unit: SHI SCU500S Auto probe to pad alignment Needle mark inspection Fail mark inspection Surface wafer ID OCR: Insight 1700 series Auto needle height and align: Auto / Manual card change Soak time option Probe card changer 3-64 Multi-site probing: 1~1024 ACCRETECH GPIB Interface: Standard command RS232 Interface MHF6000 Hinge manipulator Test system interface: Micron C1D (Tester is not included) Cold temperature Side loader X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C) X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm Z-Axis stoke: 37 mm Z-Axis control accuracy: ±2 µm Stage durability: 200 kgf Hot and cold chuck SCU-600 Chiller Temperature range: -40ºC to 150°C No Hard Disk Drive (HDD) 2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 ist eine Prober-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um automatisierte Wafer-Sondierungs- und Testfunktionen bereitzustellen. Das System ist in der Lage, bis zu 8 Wafer-Tastkarten gleichzeitig zu unterstützen und handhabt Waferdurchmesser bis 300mm mit verstellbaren X/Y-Bühnen-TABLE-Erweiterungen. Es ist kompatibel mit Semiconductor Process Control (SPC), um die Prozessoptimierung zu erleichtern, und die integrierte Benutzeroberfläche (UI) ist so konzipiert, dass sie dem Benutzer die Möglichkeit bietet, die automatisierte Probereinheit einfach zu programmieren und zu überwachen. TSK UF 3000 verfügt über einen modularen Aufbau und bietet eine umfangreiche Liste von Funktionen, wie eine einzigartige zweistufige Bewegungsmaschine, die zu schnelleren Waferübertragungszeiten und der Fähigkeit, den Wafer unter dynamischen Lastbedingungen schnell wiederherzustellen, führt. Dies ermöglicht einen höheren Durchsatz, eine verbesserte Waferkapazität und reduziert die Entwicklungszeiten weit. Eine integrierte Umweltkammer ermöglicht auch die Verwendung des Werkzeugs für Temperatur-/Feuchtigkeitskontrolltests und stabile Temperaturmessungen, so dass es ideal für die Prüfung einer breiten Palette von Geräten ist. Die Anlage ist auch mit hochpräzisen Laser-Autofokus ausgestattet, der es in der Lage macht, eine Vielzahl von verschiedenen Wafertypen zu verwalten, von kleinen bis zu großen Proben. Auf diese Weise kann das Modell die mechanische Ausrichtung der Sonde minimieren und die Genauigkeit maximieren. Darüber hinaus verfügt das Gerät über ein Vakuum-Wafer-Spannsystem für erhöhte Stabilität und verbesserte Wiederholbarkeit. Dies wird weiter durch eine ergonomische Konstruktion optimiert, die einen geringen unbequemen Bewegungsbereich bietet, was zu verringerter Ermüdung und verbesserter Genauigkeit gegenüber kontinuierlicher Sondierung führt. ACCRETECH UF3000 unterstützt auch Ethernet Remote Control (ERC) Funktionalität und SPC/EPS Waveform Messfunktion, so dass Benutzer auf den Prober-Status und die Daten aus der Ferne zugreifen und überwachen können. Schließlich ist es kompatibel mit einer Vielzahl von Betriebssystemen, wie Microsoft Windows, MacOS, Linux und Android, so dass Benutzer einfach die Software ausführen können, die benötigt wird, um das Gerät zu steuern und zu überwachen.
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