Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9308941 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9308941
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2006
Wafer prober, 12"
Single loadport
KEYENCE BL-601HAC1 Cassette ID Reader
Chuck size, 12"
Chuck material: NICKEL Coating
ARTS-LC12 Low temp chuck
Chuck temperature range: -40~150℃
Temperature unified chuck
External chiller unit: SHI SCU500S
Auto probe to pad alignment
Needle mark inspection
Fail mark inspection
Surface wafer ID OCR: Insight 1700 series
Auto needle height and align: Auto / Manual card change
Soak time option
Probe card changer
3-64 Multi-site probing: 1~1024
ACCRETECH GPIB Interface: Standard command
RS232 Interface
MHF6000 Hinge manipulator
Test system interface: Micron C1D (Tester is not included)
Cold temperature
Side loader
X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C)
X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm
Z-Axis stoke: 37 mm
Z-Axis control accuracy: ±2 µm
Stage durability: 200 kgf
Hot and cold chuck
SCU-600 Chiller
Temperature range: -40ºC to 150°C
No Hard Disk Drive (HDD)
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 ist eine Prober-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um automatisierte Wafer-Sondierungs- und Testfunktionen bereitzustellen. Das System ist in der Lage, bis zu 8 Wafer-Tastkarten gleichzeitig zu unterstützen und handhabt Waferdurchmesser bis 300mm mit verstellbaren X/Y-Bühnen-TABLE-Erweiterungen. Es ist kompatibel mit Semiconductor Process Control (SPC), um die Prozessoptimierung zu erleichtern, und die integrierte Benutzeroberfläche (UI) ist so konzipiert, dass sie dem Benutzer die Möglichkeit bietet, die automatisierte Probereinheit einfach zu programmieren und zu überwachen. TSK UF 3000 verfügt über einen modularen Aufbau und bietet eine umfangreiche Liste von Funktionen, wie eine einzigartige zweistufige Bewegungsmaschine, die zu schnelleren Waferübertragungszeiten und der Fähigkeit, den Wafer unter dynamischen Lastbedingungen schnell wiederherzustellen, führt. Dies ermöglicht einen höheren Durchsatz, eine verbesserte Waferkapazität und reduziert die Entwicklungszeiten weit. Eine integrierte Umweltkammer ermöglicht auch die Verwendung des Werkzeugs für Temperatur-/Feuchtigkeitskontrolltests und stabile Temperaturmessungen, so dass es ideal für die Prüfung einer breiten Palette von Geräten ist. Die Anlage ist auch mit hochpräzisen Laser-Autofokus ausgestattet, der es in der Lage macht, eine Vielzahl von verschiedenen Wafertypen zu verwalten, von kleinen bis zu großen Proben. Auf diese Weise kann das Modell die mechanische Ausrichtung der Sonde minimieren und die Genauigkeit maximieren. Darüber hinaus verfügt das Gerät über ein Vakuum-Wafer-Spannsystem für erhöhte Stabilität und verbesserte Wiederholbarkeit. Dies wird weiter durch eine ergonomische Konstruktion optimiert, die einen geringen unbequemen Bewegungsbereich bietet, was zu verringerter Ermüdung und verbesserter Genauigkeit gegenüber kontinuierlicher Sondierung führt. ACCRETECH UF3000 unterstützt auch Ethernet Remote Control (ERC) Funktionalität und SPC/EPS Waveform Messfunktion, so dass Benutzer auf den Prober-Status und die Daten aus der Ferne zugreifen und überwachen können. Schließlich ist es kompatibel mit einer Vielzahl von Betriebssystemen, wie Microsoft Windows, MacOS, Linux und Android, so dass Benutzer einfach die Software ausführen können, die benötigt wird, um das Gerät zu steuern und zu überwachen.
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