Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9312312 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein Hochleistungsprober, der für Wafer-Sondierung und erweiterte Gerätetests verwendet wird. Es bietet eine große Kombination aus Geschwindigkeit und Präzision, um die Betriebsleistung komplexer Geräte zeitnah zu bewerten. Mit seiner hochvergrößerten Objektivlinse und Energiequelle ist TSK UF 3000 in der Lage, mehrere Oberflächen innerhalb kurzer Zeit zu inspizieren. Das Objektiv auf ACCRETECH UF3000 hat einen Vergrößerungsbereich von 5X bis 500X und verfügt über einen langen Arbeitsweg von bis zu 105mm. Es hat ein helles LED-Licht, das reflektiertes Licht und Blendung reduziert, und die harten X-Y-Z-Stufen bieten ein kontrastreiches Bildgebungserlebnis mit geringer Vibration und hoher Genauigkeit. Mit seiner hochauflösenden Bildanzeige, der dynamischen Fokusregelung und dem einstellbaren Arbeitsabstand ist ACCRETECH UF 3000 sehr effizient bei der Inspektion der Details verschiedener Substrate aus verschiedenen Winkeln. UF 3000 enthält auch eine leistungsstarke Feldemissionsquelle für Energie, die je nach Größe und Material des Substrats eingestellt werden kann. Es verfügt über ein Strom-Spannungs-Modul, das die aktuellen Parameter dynamischer Sonden genau messen kann. Dies ermöglicht es uns, die elektrischen Parameter von Prototypen zu erhalten, die elektrischen Eigenschaften neuer Geräte und Fehler experimentell zu untersuchen und Mängel der Geräteprüfung zu diagnostizieren. Die Messungen und Testmöglichkeiten von TSK UF3000 werden über einen externen USB-Port gesteuert, der auch zur Datenverwaltung und Echtzeitbeobachtung der Messdaten genutzt werden kann. Dies ermöglicht es Benutzern, den Betrieb des Geräts vom Host-Computer aus zu überwachen, was den Prozess effizienter und benutzerfreundlicher macht. UF3000 ist der perfekte Prober für diejenigen, die ein Hochleistungsinstrument suchen, um genaue Tests auf einer Reihe von Substraten durchzuführen. Es verfügt über eine leistungsstarke Energiequelle, ein Hochvergrößerungsobjektiv und einen USB-Anschluss zur externen Steuerung. So können Anwender Prototypen effizient testen und Fehler schnell und einfach diagnostizieren.