Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9316375 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9316375
Weinlese: 2004
Prober
Nickel cold chuck
APC
Card holder
SCU-500S Chiller
MHF6000 Manipulator
Hard Disk Drive (HDD)
MO
T 5377 Head stage
Printer
Floppy Disk Drive (FDD)
Touch monitor
Right loader
Temperature range: -40°C to 150°C
2004 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein Prober für automatisierte Wafer-Sondierungsanwendungen. Es wurde entwickelt, um den Durchsatz und die Ausbeute für eine breite Palette von Halbleiterbauelementen zu verbessern. Der Prober weist einen integrierten Probermotorantrieb, einen 32-Bit-Bewegungsregler auf Mikroprozessorbasis, einen hochpräzisen Kraftsensor und eine Kraftregeleinrichtung auf. Der Probermotorantrieb ermöglicht die Positionierung von Wafern mit hoher Präzision und Genauigkeit. Durch den Einsatz von linearen Servomotoren ist der Prober in der Lage, das Spannfutter präzise und wiederholt über den gesamten Bereich von Wafer-Sonden zu bewegen. Der Motorantrieb hilft dem Prober auch, sich präzise über eine ganze Reihe von Wafer-Sondierungsanwendungen zu bewegen. Der mikroprozessorbasierte Bewegungsregler ist für die Steuerung der Bewegung des Spannfutters und der Wafer verantwortlich. Der Bewegungsregler ist in der Lage, die Bewegung des Spannfutters für kurze und lange Bewegungen zu steuern und die Kontaktkraft für genaue und wiederholbare Sondenergebnisse genau zu steuern. Der Motion Controller verwendet auch eine integrierte PID-Schleife für genaue und wiederholbare Bewegungssteuerung. Der Kraftsensor ermöglicht es dem Prober, die Kontaktkraft zwischen Spannfutter und Wafer genau zu messen und aufrechtzuerhalten, um genaue und wiederholbare Sondenergebnisse zu erzielen. Der Sensor misst die Kontaktkraft während der Sondenmanipulation, und die Kraftregelung ermöglicht es dem Prober, die Kontaktkraft für optimale Sondierungsergebnisse einzustellen. Die gesamte Probereinheit ist in einem langlebigen und robusten Rahmen untergebracht, der dafür sorgt, dass die Genauigkeit des Probers im Laufe der Zeit erhalten bleibt. Der Prober ist zudem voll integriert mit einer Vielzahl von Softwarelösungen für verschiedene Sondierungsanwendungen. Dazu gehören Softwareanwendungen für Mehrfachwafer-Handling, Wafer-Level-Messung und Spannungsanalyse sowie Wafer-Sortierung. Darüber hinaus verfügt der Prober über eine integrierte Maschine zur Erzeugung von Testergebnissen. Dieses Werkzeug ermöglicht rückverfolgbare Testergebnisse sowohl für kontaktlose als auch für berührungslose Sondierungsanwendungen. Der Prober verfügt zudem über eine erweiterte Echtzeit-Überwachungs- und Diagnose-Komponente und ein integriertes ESD-Schutzmodell. Insgesamt ist TSK UF 3000 ein sehr vielseitiger und präziser Prober für automatisierte Wafer-Sondierungsanwendungen. Der integrierte Motorantrieb, der Bewegungsregler, der Kraftsensor und die Kraftsteuerung sorgen für die Präzision und Genauigkeit, die für zuverlässige und wiederholbare Sondierungsergebnisse erforderlich sind. Darüber hinaus sind die integrierten Softwareanwendungen und das System zur Generierung von Testergebnissen eine ausgezeichnete Wahl für eine Vielzahl von Wafer-Sondierungsanwendungen.
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