Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9352941 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein Prober für fortschrittliche automatische Waferanalyse und Inspektionsanwendungen. Es verfügt über eine leistungsstarke, hochpräzise Architektur kombiniert mit einer großen Samplegröße und hoher Scangeschwindigkeit. Der Prober bietet eine hohe Abtastgenauigkeit, wobei die Abtastraten schneller sind als bei konkurrierenden Systemen. TSK UF 3000 bietet überlegene Abtastgenauigkeit über einen optimierten Probenbereich von 200 - 5000um. Der Prober ist als zweistufiges Scangerät konzipiert, das eine effiziente Probenbearbeitung und hochpräzise Ergebnisse ermöglicht. Die erste Stufe ist der Hauptabtastmechanismus, der aus zwei linearen XY-Abtastmechanismen mit einer Genauigkeit von 0,1 Mikron besteht. Die zweite Stufe ist eine thermisch stabile Plattform, die die Probentemperatur während der Probekonfiguration aufrechterhält. ACCRETECH UF3000 bietet integrierte Systemfunktionen einschließlich Messtechnik, Die-to-Die-Mapping und Fehlererkennung. Seine Mapping-Funktionen ermöglichen eine erweiterte Fehlerbewertung und ermöglichen es Benutzern, eine detaillierte Karte von Fehlerhotspots zu erstellen. Seine messtechnischen Fähigkeiten umfassen Echtzeit-Waferdickenmessung, Ausrichtung und Sigma-z-Messungen. TSK UF3000 ist eine komplexe Einheit und erfordert eine sorgfältige Einrichtung und Bedienung. Es ist voll kompatibel mit TSK ProberControl III Software. ProberControl III bietet eine intuitive Steuerung der Maschine für eine effiziente Bedienung. Es erleichtert die einfache Einrichtung und Analyse von Geräteparametern, die Steuerung der Sondenspitzenpositionierung sowie Simulation, Segmentierung und Chargenkonfiguration. UF3000 liefert zuverlässige Ergebnisse mit hoher Präzision und ist in der Lage, eine schnelle Fehlerinspektion auf einer breiten Palette von gebundenen und ungebundenen Qualitätssicherungstests zu verwalten. Das Tool ist ideal für erweiterte Waferanalyseanwendungen und bietet eine breite Palette vielseitiger Funktionen, die eine effiziente und genaue Prüfung der Wafereigenschaften ermöglichen.