Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9354562 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein fortschrittlicher Prober zur Prüfung von Halbleiterbauelementen und zur Materialcharakterisierung. Es verfügt über eine einfache und modulare Architektur, die eine einfache Skalierung der Funktionen ermöglicht. TSK UF 3000 verfügt über eine Hochvakuumkammer, die in der Lage ist zu 15nTorr, sie mit der Fähigkeit auszustatten, Durchgangslöcher zu bilden, mehrschichtige Substrate zu inspizieren und Kontakte zu charakterisieren. Dieses Tool verfügt über ein erweitertes Vision-System, das sowohl 2D- als auch 3D-Bildgebung für höhere Auflösung umfasst. Mit den zwei hochpräzisen XY-Stufen kann sich der Prober leicht über das Gerät bewegen und Bilder für Inspektionszwecke präzise aufnehmen. Darüber hinaus verfügt ACCRETECH UF3000 über sechs hochpräzise Theta-Stufen zur präziseren Sondierung des Geräts. ACCRETECH UF 3000 verfügt zudem über eine breite Palette von Funktionen, die eine effiziente Chip-Sondierung ermöglichen. Es verfügt über ein fortschrittliches Substratsteuerungssystem, das ein einzigartiges Design umfasst, das physikalische Fehler auf der Oberfläche des Wafers scannen und erkennen kann. Dieses System kann auch für die Kontaktmessung von Pad und Sonden verwendet werden und bietet dem Benutzer genaue und wiederholbare Ergebnisse. Um die Genauigkeit und Konsistenz der Testergebnisse zu gewährleisten, verfügt UF3000 über einen eingebetteten Controller zur Einstellung der Scan-Oszillationsparameter sowie voreingestellte Testvorgänge. Darüber hinaus hat UF 3000 ein ergonomisches Design für einen einfachen Zugang zur Rückseite des Probers. Dadurch ist sichergestellt, dass alle Komponenten wie Pumpen, Tanks und Kältemaschinen für Wartung und Wartung leicht zugänglich sind. Das Design ermöglicht auch eine schnellere Be- und Entladung von Geräten und verkürzt die Sondierungszykluszeit für eine höhere Produktivität. TSK UF3000 bietet auch verbesserte Sicherheitsfunktionen, darunter zwei Magnetverschlüsse zum Schutz des Wafers und zur Vermeidung von Verschmutzungen. Es ist auch mit Geräuschüberwachungssensoren ausgestattet, die den Benutzer auf ungewöhnlich hohe Geräuschpegel, die Schäden oder Schäden an der Ausrüstung verursachen könnten, erkennen und warnen. Insgesamt ist ACCRETECH/TSK UF3000 prober ein fortschrittliches Test- und Charakterisierungstool, das alle notwendigen Funktionen zum Testen von Halbleiterbauelementen enthält. Es bietet eine Hochvakuumkammer, zwei XY-Stufen, hochpräzise Theta-Stufen, fortschrittliche Vision-Systeme und eingebettete Controller für eine effiziente Chip-Sondierung. Darüber hinaus bietet sein ergonomisches Design einfachen Zugriff auf die Rückseite des Probers für schnelleres Be- und Entladen von Geräten. Schließlich sorgen die Sicherheits- und Sicherheitsmerkmale dafür, dass der Wafer und die Ausrüstung vor Schäden oder Beschädigungen geschützt sind.