Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9357332 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 Prober ist ein Hochleistungs-Halbleitersonden-Testgerät zur Durchführung elektrischer Tests an Wafer-Baugruppen. Das System verwendet eine XYZ-Bewegungsstufe, um eine Sondenkarte auf eine Wafer-Baugruppe zu positionieren, die auf der Bühne montiert ist. Die Sondenkarte wird von einem Roboterarm gesteuert, der sie relativ zur Vorrichtung in Position bringt. TSK UF 3000 verfügt über eine mehrkanalige Mustererkennungstechnik zur präzisen Steuerung der Tastkartenposition. ACCRETECH UF3000 hat eine sehr schnelle Sondengeschwindigkeit und behält eine hohe Genauigkeit auch unter den anspruchsvollsten Prüfbedingungen bei. Das Gerät verfügt über eine breite Palette von Sonden und Zubehör für eine Vielzahl von Testanwendungen. Es verfügt über eine integrierte Fehlererkennung und Isolationsfähigkeit zur Erkennung von kurzen und offenen Fehlern in jedem Gerät. Darüber hinaus verfügt UF3000 über eine integrierte Bibliothek mit Kalibrier- und Testverfahren. Diese Bibliothek enthält Testparameter und Daten, die direkt auf die Maschine heruntergeladen oder hochgeladen werden können. ACCRETECH UF 3000 hat zwei Arten von elektrischen Messmodi. Der erste Modus ist die stationäre Messung, die das Einfügen einer entsprechenden Sonde in die Vorrichtung, das Erfassen ihrer Spannungs- und Stromsignale und anschließend die Zeit- und Frequenzbereichsanalyse und die Anzeige der Messergebnisse beinhaltet. Der zweite Modus ist die Transientenzustandsmessung, die mit einer speziellen Sonde durchgeführt wird, die die Spannungs- und Stromsignale des Gerätes während verschiedener Betriebsstufen erfasst. Nachdem die Transienten erfasst wurden, werden sie analysiert und auf dem LCD-Bildschirm des Tools angezeigt. ACCRETECH/TSK UF3000 bietet auch eine breite Palette von Diagnoseoptionen, einschließlich In-situ-Soft-Testing, Off-Wafer-flache Trench-Isolation-Tests und nicht-invasive visuelle Inspektion. Im Soft-Testing-Modus wird die Tastkarte verwendet, um elektrische Parameter des Geräts in seiner Waferform zu messen. Flache Trenn-Isolationstests können Fehler im Inneren des Geräts erkennen, die in konventionellen elektrischen Tests oft verfehlt werden. Diese Art der Prüfung erfolgt zerstörungsfrei und erfordert minimalen Aufwand. Schließlich kann nicht-invasive Sichtprüfung verwendet werden, um die Struktur des Geräts vor und nach seiner Montage zu überprüfen. UF 3000 wurde entwickelt, um den Eingriff des Bedieners zu minimieren und die Effizienz der Tests zu maximieren. Seine Sondenkarten wurden entwickelt, um die Probennutzung zu maximieren und die Testzeit zu reduzieren. Die Anlage verfügt auch über automatische Signalanalyse und Fehlererkennung, die den Bedarf an manuellen Tests deutlich reduzieren. Die integrierte Fernbedienung ermöglicht es Benutzern, von überall aus auf das Testmodell zuzugreifen und es zu überwachen. Darüber hinaus verfügt es auch über eine erweiterbare Datenverwaltungsausrüstung, um die Ergebnisse der durchgeführten Tests zu speichern. Insgesamt ist TSK UF3000 Prober ein fortschrittliches und zuverlässiges Testsystem, das in der Lage ist, eine breite Palette von Wafer-Baugruppen zu testen. Die integrierten Funktionen und Funktionen machen es zu einer idealen Testlösung für eine Vielzahl von Anwendungen.